具体描述
基本信息
书名：微观组织的分析电子显微学表征(英文版)
定价：119.00元
作者：戒咏华
出版社：高等教育出版社
出版日期：2012-01-01
ISBN：9787040300925
字数：
页码：
版次：1
装帧：精装
开本：16开
商品重量：0.999kg
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内容提要
本收系统地介绍了分析电子显微学（AEM）的基本概念和操作技术，聚集于相恋和形变中位错的AEM研究。同时通过大量的例子阐述衍射晶体学的物理概念和数学分析方法，例如相变中位向关系的定量预测等，以便读者加深理解和拓展视野。
目录
Chapter 1 Analytical Electron Microscope (AEM)
1.1 Brief introduction of AEM history
1.2 Interaction between electrons and specimen and signals used byAEM
1.3 Electron wavelength and electromagic lens
1.3.1 Electron wavelength
1.3.2 Electromagic lens
1.4 Structure and function of AEM
1.4.1 Illumination system
1.4.2 Specimen holders
1.4.3 Imaging system
1.4.4 Image recording
1.4.5 Power supply system and vacuum system
1.4.6 Computer control '
1.5 The principle of imaging, magnifying and diffracting
1.6 Theoretical resolution limit
1.7 Depth of focus and depth of field
1.8 Spherical aberration-c0rrected TEMs References
Chapter 2 Specimen Preparation
2.1 Traditional techniques
2.1.1 Replica
2.1.2 Preparation of powders
2.1.3 Film preparation for plan view
2.1.4 Film preparation from a bulk metallic sample .
2.1.5 Film preparation from a bulk nonmetaltic sample.
2.2 Special techniques
2.2.1 Cross-sectional specimen preparation
2.2.2 Cleaving and small angle cleavage technique
2.2.3 Ultramicrotomy
2.2.4 Focused ion beam technique References
Chapter 3 Electron Diffraction
3.1 Comparison of electron diffraction with X-raydiffraction
3.2 Conditions of diffraction
3.2.1 Geometric condition
3.2.2 Physical condition
3.2.3 Diffraction deviating from exact Bragg Condition
3.3 Basic equation used for analysis of electron diffractionpattern
3.3.1 Diffraction in an electron diffractometer
3.3.2 Diffraction in a TEM
3.4 Principle and operation of selected area electrondiffraction
3.5 Rotation of image relative to diffraction pattern
3.6 Diffraction patterns of polycrystal and theirapplications
3.6.1 Formation and geometric features of diffraction patternsfor polycrystal
3.6.2 Applications of ring patterns
3.7 Geometric features of diffraction patterns of singlecrystals
3.7.1 Geometric features and diffraction intensity of a singlecrystal pattern
3.7.2 Indexing methods of single crystal diffractionpatterns
3.8 Main applications of single crystal pattern
3.8.1 Identification of phases
3.8.2 Determination of orientation relationship
3.9 Diffraction spot shift by stacking faults and determination ofstacking fault probability
3.9.1 Diffraction from planar defect
3.9.2 Determination of stacking fault probability in HCPcrystal
3.9.3 Determination of stacking fault probability in FCCcrystal
3.10 Systematic tilting technique and its applications
3.10.1 Systematic tilting technique by double tilt holder.
3.10.2 Determination of electron beam direction
……
Chapter 4 Mathematics Analysis in Electron Diffraction andCrystallography
Chapter 5 Diffraction Contrast
Chapter 6 high Resolution and High Spatial Resolution of Analyticaelectron Microscopy
Appendix
Index
作者介绍
文摘
序言
用户评价
《微观组织的分析电子显微学表征（英文版）》这本书，以其严谨的题目，昭示着其内容必然是深度和广度的结合。在我拿到这本书的当下，脑海中浮现的是无数关于材料内部奥秘的疑问，而电子显微镜，无疑是解开这些疑问的最有力武器。我一直对如何“看见”并“理解”物质在纳米甚至原子尺度下的形态和结构感到着迷。这本书的英文名称，暗示着它是一本面向专业领域的研究者和学生的工具书，同时也可能包含着一些基础性的概念讲解，以帮助读者更好地理解后续的深入内容。我非常期待书中能够详尽地介绍电子显微镜的各种成像模式，特别是二次电子像和背散射电子像，它们分别能提供哪些关于样品表面形貌和成分对比的信息。对于透射电子显微镜，我希望书中能深入讲解其在观察材料内部结构方面的优势，以及高分辨率成像如何揭示原子级别的排列。更重要的是，这本书的核心在于“分析”和“表征”。我希望书中能够提供一套系统化的分析方法论，从图像采集到数据处理，再到最终的结论得出，每一个环节都有清晰的指导。例如，如何进行尺寸分布的统计分析？如何识别和量化材料中的缺陷？如何通过电子显微学手段来研究材料的相变过程？这些都是我非常希望从书中获得的知识。此外，我设想书中会包含大量高质量的微观组织图像，这些图像本身就是知识的载体，它们将直观地展示出不同材料在电子显微镜下的真实面貌，并配以详尽的文字解释，帮助我理解图像背后的科学原理。我对书中可能涉及的各种谱学分析技术，如能量色散X射线光谱（EDS）和电子能量损失谱（EELS）等，抱有极大的兴趣。我希望了解这些技术如何与电子显微成像技术相结合，从而实现对微观组织成分和电子结构的同步分析，为材料科学的研究提供更全面的信息。这本书无疑是我学习和研究过程中不可或缺的宝贵财富，我期待着它能为我打开一扇通往微观世界的大门。
评分这本书，与其说是一本学术著作，不如说是一位经验丰富的科学家向我们娓娓道来他在微观世界探索的旅程。当我第一次拿到《微观组织的分析电子显微学表征（英文版）》这本书时，我首先感受到的不是知识的密度，而是一种平和而又充满智慧的氛围。我一直以来对材料科学和物理学都有着浓厚的兴趣，而电子显微学正是连接这两个领域的桥梁。这本书的名字本身就充满了学术的严谨性和技术的深度，让我对即将展开的阅读之旅充满了期待。我非常好奇书中是否会从电子显微镜的基本原理开始，循序渐进地讲解其工作机制，例如电子枪的发射原理、电子束的聚焦和扫描过程，以及样品与电子束相互作用后产生的各种信号（如二次电子、背散射电子、透射电子、俄歇电子等）。接着，我猜想书中会详细阐述不同类型的电子显微镜，比如扫描电子显微镜（SEM）和透射电子显微镜（TEM），以及它们在分辨率、成像模式和适用范围上的差异。我特别关注的是书中如何处理“表征”这个关键环节。这不仅仅是看到图像，更是如何从图像中提取出有用的信息，并将其转化为科学结论。我希望能看到书中关于图像处理、定量分析（如尺寸测量、形貌分析、相含量分析等）以及缺陷分析的具体方法和实例。例如，如何识别和描述位错、孪晶、晶界等微观结构特征，以及如何利用电子显微学技术研究相变、织构等材料性能相关的微观组织。我对书中可能包含的关于高分辨透射电子显微镜（HRTEM）的章节尤为感兴趣，因为它能够直接观察到原子排列，这无疑是微观组织研究的终极目标之一。此外，我希望书中也能涵盖一些最新的发展，比如电子衍射技术的应用，如何通过分析电子衍射花样来确定晶体结构和取向，以及一些先进的原位电子显微学技术，能够在样品发生变化时实时观察其微观结构演化。这本书的出现，如同在迷雾中点亮了一盏明灯，为我指引了探索微观组织奥秘的方向，我迫不及待地想深入其中，学习其中的精髓。
评分《微观组织的分析电子显微学表征（英文版）》这本书，在我眼中不仅仅是一本科技书籍，更像是一本探索未知世界的地图集，而电子显微镜则是探索这些未知世界的船只。我一直对物质的微观结构如何决定宏观性质的问题深感兴趣，电子显微学正是解决这个问题的关键技术。当我看到这本书的标题时，我的第一反应是，这绝对是我需要的！我迫不及待地想知道书中是如何讲解电子显微镜的工作原理的，特别是关于电子与物质相互作用产生的各种信号，如二次电子、背散射电子、透射电子、俄歇电子、X射线等，以及这些信号是如何被探测和转化为我们所看到的图像的。我非常期待书中能够对扫描电子显微镜（SEM）和透射电子显微镜（TEM）进行详细的比较和阐述，包括它们在分辨率、穿透深度、样品制备要求以及成像模式上的差异。书中对“分析”和“表征”的侧重，尤其吸引我。我希望书中能够提供详细的分析方法，例如如何通过电子显微图像来定量分析颗粒的尺寸分布、形貌特征、孔隙率等。我还希望能学习到如何利用电子显微镜来识别和表征材料中的各种缺陷，如位错、晶界、夹杂物等，以及这些缺陷对材料性能的影响。对于透射电子显微镜，我非常期待书中能够深入讲解其在高分辨率成像方面的能力，以及如何利用它来观察原子排列、晶格缺陷等。我也对书中可能涉及的电子衍射技术和能量色散X射线谱（EDS）等成分分析技术充满期待，希望了解如何将这些技术与成像技术相结合，从而实现对材料微观组织、结构和成分的全面表征。这本书的出现，如同一次召唤，邀请我深入微观世界的奥秘，我将怀揣着求知若渴的心情，开启这段探索之旅。
评分《微观组织的分析电子显微学表征（英文版）》——一个标题足以让人联想到严谨的科学研究和尖端的实验技术。我一直对物质在微观尺度下的形态、结构及其演化过程充满浓厚的兴趣，而电子显微镜作为探索这一领域的关键工具，其表征方法自然是我渴望深入学习的。这本书的出现，为我提供了一个绝佳的学习机会。我期待书中能够详尽地介绍电子显微镜的基本原理，从电子枪的工作方式到电子束的聚焦和扫描，再到样品与电子束相互作用后产生的各种信号（如二次电子、背散射电子、透射电子、X射线等）的形成和探测。我尤其关注书中对扫描电子显微镜（SEM）和透射电子显微镜（TEM）的对比分析，包括它们各自的优势、局限性，以及在不同研究领域中的应用。这本书的核心在于“分析”和“表征”，因此，我希望书中能够提供一套系统化的微观组织分析方法，例如如何进行定量分析，包括测量晶粒尺寸、分析形貌特征、识别和统计缺陷等。我猜想书中会包含大量高质量的微观组织图像，这些图像将直观地展示出不同材料在电子显微镜下的真实面貌，并配以详尽的文字解释，帮助我理解图像背后的科学原理。我对书中可能涉及的各种谱学分析技术，如能量色散X射线谱（EDS）或波长色散X射线谱（WDS）等，也抱有极大的兴趣，希望能了解如何通过这些技术来分析微观组织的成分，从而获得更全面的信息。这本书无疑将成为我深入理解和掌握微观组织分析电子显微学表征技术的得力助手。
评分《微观组织的分析电子显微学表征（英文版）》——一个充满学术魅力的标题，瞬间点燃了我对微观世界的求知欲。长久以来，我一直对物质内在的精细结构如何影响其宏观性质感到好奇，而电子显微镜以其无与伦比的分辨能力，成为了探索这一奥秘的最佳利器。这本书的出现，正是我期盼已久的。我希望能从书中深入了解电子显微镜的基本原理，包括电子枪的种类、电子束的产生与控制、以及电子与样品相互作用所产生的各种信号，例如二次电子、背散射电子、透射电子、俄歇电子等，以及它们如何被探测并转化为可视化的图像。我对书中对扫描电子显微镜（SEM）和透射电子显微镜（TEM）的详细介绍充满期待，特别是它们在分辨率、成像深度、样品制备要求以及各自擅长解决的问题类型上的区别。这本书的重点在于“分析”与“表征”，我希望书中能够提供一套严谨而实用的微观组织分析方法论。例如，如何从电子显微图像中进行定量分析，包括晶粒尺寸的统计、形貌特征的描述、缺陷的识别与定量等。书中是否会针对不同材料体系（如金属、陶瓷、聚合物、生物样品等）提供专门的样品制备和分析指导？这对我来说是至关重要的。此外，我对电子衍射技术和能量色散X射线谱（EDS）等成分分析技术在电子显微学中的应用抱有极大的兴趣，希望能了解如何将这些技术与成像技术相结合，实现对微观组织结构和成分的综合表征。这本书无疑将成为我深入理解和掌握微观组织分析电子显微学表征技术的宝贵资源。
评分《微观组织的分析电子显微学表征（英文版）》——这个书名本身就充满了学术的深度和技术的魅力。我对物质的微观结构如何决定其宏观性能这一核心问题一直充满好奇，而电子显微镜正是揭示这些微观奥秘的强大工具。这本书的出现，恰好满足了我对这一领域深入探索的渴望。我希望书中能够从基础开始，详细讲解电子显微镜的工作原理，包括电子的产生、加速、聚焦、扫描以及与样品相互作用所产生的各种信号（如二次电子、背散射电子、透射电子、俄歇电子、X射线等）的形成和探测机制。我非常期待书中能够对扫描电子显微镜（SEM）和透射电子显微镜（TEM）进行深入的比较和阐述，包括它们的分辨率、穿透深度、样品制备要求以及各自在不同研究问题中的应用优势。这本书的重点在于“分析”和“表征”，因此，我迫切希望书中能够提供一套系统化的微观组织分析方法，包括如何从电子显微图像中进行定量分析，如晶粒尺寸的测量、形貌特征的描述、缺陷的识别与定量等。我特别想了解书中是否会针对不同材料体系（如金属、陶瓷、聚合物、生物样品等）提供具体的样品制备和分析策略。此外，我对电子衍射技术和能量色散X射线谱（EDS）等成分分析技术在电子显微学中的应用充满期待，希望能学习如何将这些技术与成像技术相结合，实现对材料微观组织结构和成分的全面表征。这本书无疑将成为我探索微观世界、提升科研能力的宝贵财富。
评分《微观组织的分析电子显微学表征（英文版）》——当我看到这个书名时，我的脑海中立刻浮现出各种精密仪器的影像，以及那些隐藏在物质深处的复杂结构。我一直对材料科学和纳米技术有着浓厚的兴趣，而电子显微镜正是探索微观世界的关键技术。这本书的出现，为我提供了一个系统学习和深入理解微观组织表征方法的绝佳机会。我希望能从书中获得关于电子显微镜基本原理的清晰讲解，包括电子的产生、加速、聚焦、扫描过程，以及样品与电子束相互作用产生的二次电子、背散射电子、透射电子等信号的形成和探测机理。我尤其期待书中能够详细比较扫描电子显微镜（SEM）和透射电子显微镜（TEM）的特点，包括它们的分辨率、穿透能力、样品制备要求以及各自在材料研究中的优势。这本书的“分析”和“表征”部分，对我来说至关重要。我希望能学习到如何从电子显微图像中提取有用的信息，例如如何进行晶粒尺寸的定量测量、形貌特征的描述、缺陷的识别和统计分析。我非常好奇书中是否会提供针对不同材料（如金属、陶瓷、高分子、生物样品等）的样品制备和分析的实践建议。此外，对能量色散X射线谱（EDS）等成分分析技术与电子显微学的结合，我抱有极大的兴趣，希望了解如何通过这些技术实现对微观组织成分的同步分析。这本书无疑将是我在微观组织研究领域的重要参考书。
评分《微观组织的分析电子显微学表征（英文版）》——这不仅仅是一个书名，它更像是一张通往未知世界的邀请函。我对微观世界的着迷由来已久，而电子显微镜无疑是解开这个世界面纱的最佳工具。因此，当这本书映入眼帘时，我立刻被它所吸引。我期待这本书能够系统地梳理电子显微学的基础理论，从电子枪的原理到电子束的聚焦、扫描，再到样品与电子相互作用产生的各种信号，都能够有清晰的讲解。我很想知道书中是如何区分和介绍不同类型的电子显微镜，例如扫描电子显微镜（SEM）和透射电子显微镜（TEM）的。它们各自的优势、局限性以及在解决不同研究问题时的适用性，是我非常感兴趣的内容。更重要的是，这本书的重点在于“分析”与“表征”。我渴望了解书中是如何指导读者进行微观组织的定量分析，例如如何测量晶粒尺寸、分析形貌特征、识别和统计缺陷等。对于生物样品、金属材料、陶瓷材料、高分子材料等不同类型的样品，书中是否会提供相应的样品制备和分析技巧？这对我来说至关重要。此外，我特别希望能看到书中详细介绍各种谱学分析技术，如能量色散X射线谱（EDS）或波长色散X射线谱（WDS），以及电子能量损失谱（EELS）。如何利用这些技术来分析微观组织的成分和电子结构，从而获得更深层次的信息，是我非常想掌握的技能。这本书的出现，无疑为我提供了一个绝佳的学习平台，让我能够深入理解和掌握微观组织的电子显微学表征技术，为我的研究和学习打开新的视野。
评分《微观组织的分析电子显微学表征（英文版）》这个书名，就好似为我打开了一扇通往物质内在世界的大门。我一直对材料的微观结构与其宏观性能之间的深刻联系感到着迷，而电子显微镜正是揭示这种联系的强大工具。这本书恰好触及了我最感兴趣的领域。我希望这本书能够提供详尽的电子显微镜原理介绍，包括各种成像模式的成像机制，例如二次电子、背散射电子、透射电子等，以及这些成像模式分别能提供哪些关于样品形貌、成分对比、内部结构等方面的信息。我特别期待书中对不同类型电子显微镜的深入比较，比如扫描电子显微镜（SEM）和透射电子显微镜（TEM）在分辨率、穿透能力、样品制备要求以及它们分别适合解决哪些类型的科学问题。这本书的核心在于“分析”与“表征”，因此，我热切地希望书中能够提供一套系统化的微观组织分析方法。例如，如何从电子显微图像中定量地提取信息，包括晶粒尺寸的测量、形貌特征的描述、缺陷的识别与定量等。我尤其关心的是，针对不同材料体系（如金属、陶瓷、聚合物、生物样品等），书中是否会提供具体的样品制备和分析策略。书中对电子衍射技术的讲解也让我充满期待，因为它能够提供晶体结构和取向等关键信息。另外，能量色散X射线谱（EDS）等成分分析技术与电子显微成像的结合，能够实现对微观组织成分的同步分析，这一点也是我非常想深入了解的。这本书的出现，无疑是为我提供了一把解锁微观世界奥秘的金钥匙，我将满怀期待地去探索其中的知识。
评分这本书以其引人入胜的标题《微观组织的分析电子显微学表征（英文版）》瞬间抓住了我的眼球。我一直对物质的微观世界充满好奇，而电子显微镜作为探索这个神秘领域的强大工具，其应用和表征方法自然是我渴望深入了解的。拿到这本书，我首先被其精美的封面设计所吸引，一种严谨而又充满科技感的视觉冲击力扑面而来，仿佛预示着里面蕴藏着无穷的知识宝藏。翻开书页，我期待着能够跟随作者的笔触，一步步揭开微观组织的面纱，理解电子显微镜是如何捕捉到那些肉眼无法企及的精细结构，并从中提取出有价值的信息。我尤其对书中可能涉及的各种样品制备技术感到好奇，毕竟，一个高质量的样品是获得清晰、准确表征的前提。不知道书中是否会详细讲解不同类型材料（如金属、陶瓷、聚合物、生物样品等）在电子显微镜下的特征，以及如何根据材料的性质选择合适的制备方法。此外，书中对不同电子显微学技术的比较和选择也可能是一大亮点。例如，扫描电子显微镜（SEM）和透射电子显微镜（TEM）各自的优势和局限性，以及它们在不同研究问题中的适用性。再者，我非常期待书中能够提供大量高质量的显微图像，这些图像不仅仅是展示，更是解读微观世界的重要线索。能够看到各种晶体结构、缺陷、相界面、纳米颗粒等的真实面貌，并且在书中找到对应的理论解释和分析方法，那将是对我视觉和认知的一次极大震撼。这本书的出版，无疑为我提供了一个绝佳的学习平台，让我能够系统地、深入地掌握微观组织分析的电子显微学表征这一重要技能，从而在我的研究或学习中取得更大的突破。我对书中可能涉及的先进技术，如能量色散X射线谱（EDS）或波长色散X射线谱（WDS）等元素分析技术，以及电子能量损失谱（EELS）等电子激发信号分析技术，充满了期待，希望能借此了解如何通过这些技术获得材料的化学成分和电子态信息，从而对微观组织的理解达到更深层次。
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