微觀組織的分析電子顯微學錶徵(英文版) 9787040300925 高等教育齣版社

微觀組織的分析電子顯微學錶徵(英文版) 9787040300925 高等教育齣版社 下載 mobi epub pdf 電子書 2025

戒詠華 著
圖書標籤:
  • 材料科學
  • 電子顯微學
  • 微觀結構
  • 組織學
  • 分析技術
  • 高等教育
  • 理工科
  • 納米材料
  • 生物材料
  • 顯微鏡技術
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店鋪: 花晨月夕圖書專營店
齣版社: 高等教育齣版社
ISBN:9787040300925
商品編碼:29891301911
包裝:精裝
齣版時間:2012-01-01

具體描述

基本信息

書名:微觀組織的分析電子顯微學錶徵(英文版)

定價:119.00元

作者:戒詠華

齣版社:高等教育齣版社

齣版日期:2012-01-01

ISBN:9787040300925

字數:

頁碼:

版次:1

裝幀:精裝

開本:16開

商品重量:0.999kg

編輯推薦


內容提要


  本收係統地介紹瞭分析電子顯微學(AEM)的基本概念和操作技術,聚集於相戀和形變中位錯的AEM研究。同時通過大量的例子闡述衍射晶體學的物理概念和數學分析方法,例如相變中位嚮關係的定量預測等,以便讀者加深理解和拓展視野。

目錄


Chapter 1 Analytical Electron Microscope (AEM)
 1.1 Brief introduction of AEM history
 1.2 Interaction between electrons and specimen and signals used byAEM
 1.3 Electron wavelength and electromagic lens
  1.3.1 Electron wavelength
  1.3.2 Electromagic lens
 1.4 Structure and function of AEM
  1.4.1 Illumination system
  1.4.2 Specimen holders
  1.4.3 Imaging system
  1.4.4 Image recording
  1.4.5 Power supply system and vacuum system
  1.4.6 Computer control '
 1.5 The principle of imaging, magnifying and diffracting
 1.6 Theoretical resolution limit
 1.7 Depth of focus and depth of field
 1.8 Spherical aberration-c0rrected TEMs References 
Chapter 2 Specimen Preparation
 2.1 Traditional techniques
  2.1.1 Replica
  2.1.2 Preparation of powders
  2.1.3 Film preparation for plan view
  2.1.4 Film preparation from a bulk metallic sample .
  2.1.5 Film preparation from a bulk nonmetaltic sample.
 2.2 Special techniques 
  2.2.1 Cross-sectional specimen preparation
  2.2.2 Cleaving and small angle cleavage technique
  2.2.3 Ultramicrotomy
  2.2.4 Focused ion beam technique References
Chapter 3 Electron Diffraction
 3.1 Comparison of electron diffraction with X-raydiffraction
 3.2 Conditions of diffraction
  3.2.1 Geometric condition
  3.2.2 Physical condition
  3.2.3 Diffraction deviating from exact Bragg Condition
 3.3 Basic equation used for analysis of electron diffractionpattern
  3.3.1 Diffraction in an electron diffractometer
  3.3.2 Diffraction in a TEM
 3.4 Principle and operation of selected area electrondiffraction
 3.5 Rotation of image relative to diffraction pattern
 3.6 Diffraction patterns of polycrystal and theirapplications
  3.6.1 Formation and geometric features of diffraction patternsfor polycrystal
  3.6.2 Applications of ring patterns
 3.7 Geometric features of diffraction patterns of singlecrystals
  3.7.1 Geometric features and diffraction intensity of a singlecrystal pattern
  3.7.2 Indexing methods of single crystal diffractionpatterns 
 3.8 Main applications of single crystal pattern
  3.8.1 Identification of phases
  3.8.2 Determination of orientation relationship
 3.9 Diffraction spot shift by stacking faults and determination ofstacking fault probability
  3.9.1 Diffraction from planar defect
  3.9.2 Determination of stacking fault probability in HCPcrystal
  3.9.3 Determination of stacking fault probability in FCCcrystal
 3.10 Systematic tilting technique and its applications
  3.10.1 Systematic tilting technique by double tilt holder.
  3.10.2 Determination of electron beam direction
 ……
Chapter 4 Mathematics Analysis in Electron Diffraction andCrystallography
Chapter 5 Diffraction Contrast
Chapter 6 high Resolution and High Spatial Resolution of Analyticaelectron Microscopy
Appendix
Index

作者介紹


文摘


序言



《納米材料的結構與性能:透射電子顯微鏡分析》 一、 書籍背景與定位 在當今科學技術飛速發展的浪潮中,新材料的發現與應用是推動社會進步的關鍵力量之一。特彆是隨著納米科學技術的崛起,對材料微觀結構進行精確錶徵的需求日益迫切。透射電子顯微鏡(TEM)以其極高的空間分辨率,成為揭示材料原子尺度結構、晶體缺陷、界麵特性以及化學成分分布等信息不可或缺的工具。 本書《納米材料的結構與性能:透射電子顯微鏡分析》聚焦於利用透射電子顯微鏡對各類納米材料進行深入分析,旨在為材料科學、凝聚態物理、化學、生物工程以及相關領域的研究人員、研究生提供一本係統、實用、兼具理論深度與實踐指導的專著。本書不側重於宏觀的材料性能預測,而是著重於通過微觀結構分析來理解和調控材料的性能。它並非一本關於“微觀組織”的概括性介紹,而是深入探討如何運用TEM這一特定工具,精細刻畫納米尺度下材料的“肌理”及其內在的“基因”。 二、 內容概覽與結構安排 本書共分為十章,從基礎理論到高級應用,層層遞進,力求全麵展現TEM在納米材料研究中的強大威力。 第一章:透射電子顯微鏡原理概述 本章將深入淺齣地介紹透射電子顯微鏡的核心工作原理。我們將從電子光學理論齣發,解釋電子束的産生、聚焦、成像過程。重點闡述電子與物質的相互作用,包括彈性散射、非彈性散射以及X射綫産生等現象,這些是後續成像和分析的基礎。此外,還將簡要介紹不同類型的TEM(如場發射掃描透射電子顯微鏡,FE-STEM;高分辨率透射電子顯微鏡,HRTEM)及其各自的優勢和應用場景。本章的目標是讓讀者對TEM的基本構成和物理過程有紮實的理解,為後續章節的學習打下堅實基礎。 第二章:納米材料樣品製備技術 微觀結構的精確錶徵,離不開高質量的樣品。本章將詳細介紹適用於不同類型納米材料(如納米顆粒、納米綫、薄膜、納米復閤材料)的多種樣品製備技術。內容將涵蓋: 機械拋光與減薄: 適用於塊體材料的初步處理。 離子減薄與聚焦離子束(FIB)製樣: 適用於脆性材料、金屬以及復雜結構的精準製備,特彆是FIB技術在製備特定區域(如界麵、缺陷)的TEM樣品方麵具有獨特優勢。 溶液法製樣: 適用於納米顆粒、納米棒等分散體係,如滴加法、浸漬法。 薄膜樣品製備: 包括超薄切片技術(對於生物和聚閤物材料)、澱粉復閤法等。 化學蝕刻與電解拋光: 適用於特定金屬材料的製備。 本章將強調不同製備方法對樣品損傷的可能性,以及如何選擇最適閤特定材料和研究目的的製備方案,確保獲得的TEM圖像能夠真實反映材料的微觀結構。 第三章:高分辨透射電子顯微鏡(HRTEM)成像 HRTEM是揭示原子排列信息的關鍵技術。本章將深入講解HRTEM的成像機製,包括相襯成像原理、焦點漂移的影響、像差校正的作用。我們將詳細討論如何通過優化成像參數(如加速電壓、物鏡孔徑、成像光闌)來獲得清晰的原子分辨圖像。內容還將涉及原子分辨成像的模擬與解釋,如何區分真實原子襯度與僞影,以及如何利用HRTEM觀察晶麵間距、晶界、位錯等晶體缺陷。 第四章:電子衍射分析(SAED與CBED) 電子衍射是確定晶體結構、取嚮和相組成的有力工具。本章將深入介紹兩種主要的電子衍射技術: 選區電子衍射(SAED): 講解如何獲得晶體的衍射花樣,如何標定晶麵指數,如何確定晶體的取嚮和晶係。特彆強調在納米材料研究中,SAED能夠對單個納米顆粒或晶疇進行分析,揭示其晶體學信息。 晶格成像電子衍射(CBED): 講解CBED的原理,以及如何利用CBED信息更精確地確定晶體對稱性、消光條件、晶格參數,甚至厚度。 本章將通過豐富的實例,展示如何利用電子衍射數據來分析多晶材料的織構、相變以及納米材料的取嚮關係。 第五章:能量色散X射綫譜(EDS/EDX)分析 EDS是TEM中常用的化學成分分析技術。本章將詳細介紹EDS的工作原理,包括X射綫産生機製、能譜儀的構成及其探測原理。重點講解如何利用EDS分析材料的元素組成、元素分布以及定量分析。內容將涵蓋: 定性分析: 識彆樣品中存在的元素。 半定量分析: 估算元素的相對含量。 定量分析: 利用標準樣品或特定算法進行精確的元素含量測定。 元素映射(Mapping): 通過掃描TEM,對樣品不同區域的元素分布進行可視化呈現,揭示元素在微觀結構中的聚集或分散情況。 綫掃描(Line Scan): 分析元素在某一特定方嚮上的濃度變化。 本章將通過分析閤金、復閤材料、摻雜納米材料等實例,展示EDS在理解材料成分與結構關聯方麵的應用。 第六章:電子能量損失譜(EELS)分析 EELS是另一種強大的化學成分和電子結構分析技術,尤其適用於輕元素分析和錶麵態研究。本章將深入講解EELS的原理,包括電子與物質相互作用産生能量損失的機製。重點介紹EELS譜的特徵峰(如等離子體峰、價帶邊緣、內殼層激發峰)的物理意義,以及如何利用這些特徵峰來: 確定元素組成與化學價態: EELS對元素的化學價態(如Fe2+/Fe3+)具有很高的敏感性。 研究電子結構: 分析材料的帶隙、導帶、價帶結構,揭示電子的激發和弛豫過程。 錶徵化學鍵閤: 通過分析EELS譜的形狀和位置,瞭解材料的化學鍵閤特性。 高空間分辨率分析: 結閤STEM,EELS可以實現納米尺度的化學成分和電子結構分析。 本章將通過對氧化物、碳材料、半導體納米材料的EELS分析實例,展示其在揭示材料電子特性方麵的獨特價值。 第七章:掃描透射電子顯微鏡(STEM)成像與分析 STEM技術通過掃描電子束並探測透射或散射的電子信號來形成圖像。本章將重點介紹STEM的成像模式,包括: 明場STEM(BF-STEM): 類似於傳統的TEM明場像,但具有更高的分辨率。 暗場STEM(DF-STEM): 特彆是高角度暗場STEM(HAADF-STEM),它對原子序數敏感,能夠清晰地分辨重原子區域,非常適閤觀察形貌和成分對比。 差分相位襯度(DPC)STEM: 用於探測磁疇和電疇。 本章還將結閤EDS和EELS,深入闡述STEM-EDS和STEM-EELS聯用分析的強大功能,實現納米尺度下的形貌、結構、成分和電子結構的一體化研究。 第八章:晶體缺陷的TEM錶徵 晶體缺陷,如空位、間隙原子、位錯、晶界、層錯等,對材料的物理性能(如強度、導電性、光學性質)起著至關重要的作用。本章將係統介紹如何利用TEM來識彆和錶徵各類晶體缺陷: 位錯的成像與分析: 講解位錯的襯度形成原理,如何通過不同襯度條件(g·b=0消光條件)來確定位錯的類型(刃位錯、螺位錯)、伯氏矢量(b)和位錯綫方嚮。 晶界的TEM錶徵: 如何觀察晶界的結構、傾斜角、扭轉角,以及界麵的失配度。 堆積層錯與錶麵缺陷: 分析層狀材料中的堆積缺陷以及錶麵結構的異常。 相界與疇壁: 揭示不同相區之間的界麵結構和疇壁的性質。 本章將通過大量實際的缺陷像例,幫助讀者掌握缺陷的識彆與定量分析方法。 第九章:特殊納米材料的TEM錶徵實例 本章將精選一係列具有代錶性的特殊納米材料,展示TEM在深入理解其結構與性能關聯方麵的具體應用。例如: 量子點: 觀測量子點的尺寸、形狀、錶麵形貌,以及其組分。 二維材料(如石墨烯、過渡金屬硫化物): 錶徵單層或多層結構的完整性、晶格缺陷、層數、堆積方式。 多孔納米材料: 揭示孔道結構、孔徑分布、孔壁形貌。 金屬納米顆粒: 分析顆粒的尺寸、形狀、晶體結構、錶麵晶格結構,以及顆粒間的聚集狀態。 生物納米材料: (如病毒、蛋白質復閤物)展示TEM在生物樣品製備和成像上的挑戰與解決方案。 每一個實例都將緊密結閤該材料的性能特點,說明TEM分析如何為其性能的理解和優化提供關鍵綫索。 第十章:TEM數據處理與分析軟件介紹 高效的TEM數據處理與分析是獲得準確結論的重要環節。本章將介紹一些常用的TEM數據處理和分析軟件,包括: 圖像處理軟件: 如ImageJ、Gatan DigitalMicrograph等,用於圖像增強、測量、校正。 電子衍射分析軟件: 用於標定衍射花樣、晶體取嚮。 EDS/EELS數據分析軟件: 如Inspire、Esprit等,用於譜峰擬閤、定量分析、元素映射處理。 三維重構軟件: 介紹如何利用球差校正STEM等技術進行三維重構,提供材料的立體結構信息。 本章旨在幫助讀者掌握運用現代軟件工具來最大化TEM數據的價值,加速研究進程。 三、 目標讀者群體 本書的目標讀者包括但不限於: 材料科學與工程專業的研究生和博士生: 為他們提供紮實的TEM理論基礎和實踐指導,使其能夠獨立開展納米材料的微觀結構錶徵研究。 從事納米材料研發的科研人員: 幫助他們熟悉TEM的最新技術和分析方法,解決在材料研發過程中遇到的結構錶徵難題。 凝聚態物理、化學、生物工程等相關領域的科學傢: 為他們提供理解和運用TEM分析納米材料的工具,促進跨學科研究。 對納米材料錶徵技術感興趣的本科生和科研助理: 作為入門和進階的學習資料。 四、 本書特色與價值 體係完整,內容翔實: 從基礎原理到高級應用,覆蓋TEM分析納米材料的各個方麵。 理論與實踐相結閤: 既有深入的理論闡述,又輔以大量的實際案例和圖例,具有很強的指導意義。 技術前沿,注重細節: 重點介紹高分辨率成像、STEM-EDS/EELS聯用等前沿技術,並對樣品製備、數據處理等細節給予充分關注。 聚焦納米材料: 緊密圍繞納米材料的特性,探討TEM分析的特有挑戰和解決方案。 實用性強: 旨在幫助讀者快速掌握TEM分析技能,解決實際科研問題。 本書並非一本包羅萬象的“組織學”教科書,而是專注於“微觀組織”中,利用“分析電子顯微學”這一精密測量手段,對“納米材料”的“結構”進行“錶徵”。它所探討的是物質在微觀尺度下的“形貌”、“晶體結構”、“原子排列”、“缺陷特徵”、“化學組成”以及“電子態分布”,這些是理解和設計功能性納米材料的基礎。本書將帶領讀者走進微觀世界,用電子的視角,窺探物質的奧秘,為材料科學的不斷發展提供堅實的技術支撐。

用戶評價

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這本書,與其說是一本學術著作,不如說是一位經驗豐富的科學傢嚮我們娓娓道來他在微觀世界探索的旅程。當我第一次拿到《微觀組織的分析電子顯微學錶徵(英文版)》這本書時,我首先感受到的不是知識的密度,而是一種平和而又充滿智慧的氛圍。我一直以來對材料科學和物理學都有著濃厚的興趣,而電子顯微學正是連接這兩個領域的橋梁。這本書的名字本身就充滿瞭學術的嚴謹性和技術的深度,讓我對即將展開的閱讀之旅充滿瞭期待。我非常好奇書中是否會從電子顯微鏡的基本原理開始,循序漸進地講解其工作機製,例如電子槍的發射原理、電子束的聚焦和掃描過程,以及樣品與電子束相互作用後産生的各種信號(如二次電子、背散射電子、透射電子、俄歇電子等)。接著,我猜想書中會詳細闡述不同類型的電子顯微鏡,比如掃描電子顯微鏡(SEM)和透射電子顯微鏡(TEM),以及它們在分辨率、成像模式和適用範圍上的差異。我特彆關注的是書中如何處理“錶徵”這個關鍵環節。這不僅僅是看到圖像,更是如何從圖像中提取齣有用的信息,並將其轉化為科學結論。我希望能看到書中關於圖像處理、定量分析(如尺寸測量、形貌分析、相含量分析等)以及缺陷分析的具體方法和實例。例如,如何識彆和描述位錯、孿晶、晶界等微觀結構特徵,以及如何利用電子顯微學技術研究相變、織構等材料性能相關的微觀組織。我對書中可能包含的關於高分辨透射電子顯微鏡(HRTEM)的章節尤為感興趣,因為它能夠直接觀察到原子排列,這無疑是微觀組織研究的終極目標之一。此外,我希望書中也能涵蓋一些最新的發展,比如電子衍射技術的應用,如何通過分析電子衍射花樣來確定晶體結構和取嚮,以及一些先進的原位電子顯微學技術,能夠在樣品發生變化時實時觀察其微觀結構演化。這本書的齣現,如同在迷霧中點亮瞭一盞明燈,為我指引瞭探索微觀組織奧秘的方嚮,我迫不及待地想深入其中,學習其中的精髓。

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《微觀組織的分析電子顯微學錶徵(英文版)》這本書,以其嚴謹的題目,昭示著其內容必然是深度和廣度的結閤。在我拿到這本書的當下,腦海中浮現的是無數關於材料內部奧秘的疑問,而電子顯微鏡,無疑是解開這些疑問的最有力武器。我一直對如何“看見”並“理解”物質在納米甚至原子尺度下的形態和結構感到著迷。這本書的英文名稱,暗示著它是一本麵嚮專業領域的研究者和學生的工具書,同時也可能包含著一些基礎性的概念講解,以幫助讀者更好地理解後續的深入內容。我非常期待書中能夠詳盡地介紹電子顯微鏡的各種成像模式,特彆是二次電子像和背散射電子像,它們分彆能提供哪些關於樣品錶麵形貌和成分對比的信息。對於透射電子顯微鏡,我希望書中能深入講解其在觀察材料內部結構方麵的優勢,以及高分辨率成像如何揭示原子級彆的排列。更重要的是,這本書的核心在於“分析”和“錶徵”。我希望書中能夠提供一套係統化的分析方法論,從圖像采集到數據處理,再到最終的結論得齣,每一個環節都有清晰的指導。例如,如何進行尺寸分布的統計分析?如何識彆和量化材料中的缺陷?如何通過電子顯微學手段來研究材料的相變過程?這些都是我非常希望從書中獲得的知識。此外,我設想書中會包含大量高質量的微觀組織圖像,這些圖像本身就是知識的載體,它們將直觀地展示齣不同材料在電子顯微鏡下的真實麵貌,並配以詳盡的文字解釋,幫助我理解圖像背後的科學原理。我對書中可能涉及的各種譜學分析技術,如能量色散X射綫光譜(EDS)和電子能量損失譜(EELS)等,抱有極大的興趣。我希望瞭解這些技術如何與電子顯微成像技術相結閤,從而實現對微觀組織成分和電子結構的同步分析,為材料科學的研究提供更全麵的信息。這本書無疑是我學習和研究過程中不可或缺的寶貴財富,我期待著它能為我打開一扇通往微觀世界的大門。

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《微觀組織的分析電子顯微學錶徵(英文版)》——一個標題足以讓人聯想到嚴謹的科學研究和尖端的實驗技術。我一直對物質在微觀尺度下的形態、結構及其演化過程充滿濃厚的興趣,而電子顯微鏡作為探索這一領域的關鍵工具,其錶徵方法自然是我渴望深入學習的。這本書的齣現,為我提供瞭一個絕佳的學習機會。我期待書中能夠詳盡地介紹電子顯微鏡的基本原理,從電子槍的工作方式到電子束的聚焦和掃描,再到樣品與電子束相互作用後産生的各種信號(如二次電子、背散射電子、透射電子、X射綫等)的形成和探測。我尤其關注書中對掃描電子顯微鏡(SEM)和透射電子顯微鏡(TEM)的對比分析,包括它們各自的優勢、局限性,以及在不同研究領域中的應用。這本書的核心在於“分析”和“錶徵”,因此,我希望書中能夠提供一套係統化的微觀組織分析方法,例如如何進行定量分析,包括測量晶粒尺寸、分析形貌特徵、識彆和統計缺陷等。我猜想書中會包含大量高質量的微觀組織圖像,這些圖像將直觀地展示齣不同材料在電子顯微鏡下的真實麵貌,並配以詳盡的文字解釋,幫助我理解圖像背後的科學原理。我對書中可能涉及的各種譜學分析技術,如能量色散X射綫譜(EDS)或波長色散X射綫譜(WDS)等,也抱有極大的興趣,希望能瞭解如何通過這些技術來分析微觀組織的成分,從而獲得更全麵的信息。這本書無疑將成為我深入理解和掌握微觀組織分析電子顯微學錶徵技術的得力助手。

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這本書以其引人入勝的標題《微觀組織的分析電子顯微學錶徵(英文版)》瞬間抓住瞭我的眼球。我一直對物質的微觀世界充滿好奇,而電子顯微鏡作為探索這個神秘領域的強大工具,其應用和錶徵方法自然是我渴望深入瞭解的。拿到這本書,我首先被其精美的封麵設計所吸引,一種嚴謹而又充滿科技感的視覺衝擊力撲麵而來,仿佛預示著裏麵蘊藏著無窮的知識寶藏。翻開書頁,我期待著能夠跟隨作者的筆觸,一步步揭開微觀組織的麵紗,理解電子顯微鏡是如何捕捉到那些肉眼無法企及的精細結構,並從中提取齣有價值的信息。我尤其對書中可能涉及的各種樣品製備技術感到好奇,畢竟,一個高質量的樣品是獲得清晰、準確錶徵的前提。不知道書中是否會詳細講解不同類型材料(如金屬、陶瓷、聚閤物、生物樣品等)在電子顯微鏡下的特徵,以及如何根據材料的性質選擇閤適的製備方法。此外,書中對不同電子顯微學技術的比較和選擇也可能是一大亮點。例如,掃描電子顯微鏡(SEM)和透射電子顯微鏡(TEM)各自的優勢和局限性,以及它們在不同研究問題中的適用性。再者,我非常期待書中能夠提供大量高質量的顯微圖像,這些圖像不僅僅是展示,更是解讀微觀世界的重要綫索。能夠看到各種晶體結構、缺陷、相界麵、納米顆粒等的真實麵貌,並且在書中找到對應的理論解釋和分析方法,那將是對我視覺和認知的一次極大震撼。這本書的齣版,無疑為我提供瞭一個絕佳的學習平颱,讓我能夠係統地、深入地掌握微觀組織分析的電子顯微學錶徵這一重要技能,從而在我的研究或學習中取得更大的突破。我對書中可能涉及的先進技術,如能量色散X射綫譜(EDS)或波長色散X射綫譜(WDS)等元素分析技術,以及電子能量損失譜(EELS)等電子激發信號分析技術,充滿瞭期待,希望能藉此瞭解如何通過這些技術獲得材料的化學成分和電子態信息,從而對微觀組織的理解達到更深層次。

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《微觀組織的分析電子顯微學錶徵(英文版)》——一個充滿學術魅力的標題,瞬間點燃瞭我對微觀世界的求知欲。長久以來,我一直對物質內在的精細結構如何影響其宏觀性質感到好奇,而電子顯微鏡以其無與倫比的分辨能力,成為瞭探索這一奧秘的最佳利器。這本書的齣現,正是我期盼已久的。我希望能從書中深入瞭解電子顯微鏡的基本原理,包括電子槍的種類、電子束的産生與控製、以及電子與樣品相互作用所産生的各種信號,例如二次電子、背散射電子、透射電子、俄歇電子等,以及它們如何被探測並轉化為可視化的圖像。我對書中對掃描電子顯微鏡(SEM)和透射電子顯微鏡(TEM)的詳細介紹充滿期待,特彆是它們在分辨率、成像深度、樣品製備要求以及各自擅長解決的問題類型上的區彆。這本書的重點在於“分析”與“錶徵”,我希望書中能夠提供一套嚴謹而實用的微觀組織分析方法論。例如,如何從電子顯微圖像中進行定量分析,包括晶粒尺寸的統計、形貌特徵的描述、缺陷的識彆與定量等。書中是否會針對不同材料體係(如金屬、陶瓷、聚閤物、生物樣品等)提供專門的樣品製備和分析指導?這對我來說是至關重要的。此外,我對電子衍射技術和能量色散X射綫譜(EDS)等成分分析技術在電子顯微學中的應用抱有極大的興趣,希望能瞭解如何將這些技術與成像技術相結閤,實現對微觀組織結構和成分的綜閤錶徵。這本書無疑將成為我深入理解和掌握微觀組織分析電子顯微學錶徵技術的寶貴資源。

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《微觀組織的分析電子顯微學錶徵(英文版)》——當我看到這個書名時,我的腦海中立刻浮現齣各種精密儀器的影像,以及那些隱藏在物質深處的復雜結構。我一直對材料科學和納米技術有著濃厚的興趣,而電子顯微鏡正是探索微觀世界的關鍵技術。這本書的齣現,為我提供瞭一個係統學習和深入理解微觀組織錶徵方法的絕佳機會。我希望能從書中獲得關於電子顯微鏡基本原理的清晰講解,包括電子的産生、加速、聚焦、掃描過程,以及樣品與電子束相互作用産生的二次電子、背散射電子、透射電子等信號的形成和探測機理。我尤其期待書中能夠詳細比較掃描電子顯微鏡(SEM)和透射電子顯微鏡(TEM)的特點,包括它們的分辨率、穿透能力、樣品製備要求以及各自在材料研究中的優勢。這本書的“分析”和“錶徵”部分,對我來說至關重要。我希望能學習到如何從電子顯微圖像中提取有用的信息,例如如何進行晶粒尺寸的定量測量、形貌特徵的描述、缺陷的識彆和統計分析。我非常好奇書中是否會提供針對不同材料(如金屬、陶瓷、高分子、生物樣品等)的樣品製備和分析的實踐建議。此外,對能量色散X射綫譜(EDS)等成分分析技術與電子顯微學的結閤,我抱有極大的興趣,希望瞭解如何通過這些技術實現對微觀組織成分的同步分析。這本書無疑將是我在微觀組織研究領域的重要參考書。

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《微觀組織的分析電子顯微學錶徵(英文版)》——這不僅僅是一個書名,它更像是一張通往未知世界的邀請函。我對微觀世界的著迷由來已久,而電子顯微鏡無疑是解開這個世界麵紗的最佳工具。因此,當這本書映入眼簾時,我立刻被它所吸引。我期待這本書能夠係統地梳理電子顯微學的基礎理論,從電子槍的原理到電子束的聚焦、掃描,再到樣品與電子相互作用産生的各種信號,都能夠有清晰的講解。我很想知道書中是如何區分和介紹不同類型的電子顯微鏡,例如掃描電子顯微鏡(SEM)和透射電子顯微鏡(TEM)的。它們各自的優勢、局限性以及在解決不同研究問題時的適用性,是我非常感興趣的內容。更重要的是,這本書的重點在於“分析”與“錶徵”。我渴望瞭解書中是如何指導讀者進行微觀組織的定量分析,例如如何測量晶粒尺寸、分析形貌特徵、識彆和統計缺陷等。對於生物樣品、金屬材料、陶瓷材料、高分子材料等不同類型的樣品,書中是否會提供相應的樣品製備和分析技巧?這對我來說至關重要。此外,我特彆希望能看到書中詳細介紹各種譜學分析技術,如能量色散X射綫譜(EDS)或波長色散X射綫譜(WDS),以及電子能量損失譜(EELS)。如何利用這些技術來分析微觀組織的成分和電子結構,從而獲得更深層次的信息,是我非常想掌握的技能。這本書的齣現,無疑為我提供瞭一個絕佳的學習平颱,讓我能夠深入理解和掌握微觀組織的電子顯微學錶徵技術,為我的研究和學習打開新的視野。

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《微觀組織的分析電子顯微學錶徵(英文版)》這本書,在我眼中不僅僅是一本科技書籍,更像是一本探索未知世界的地圖集,而電子顯微鏡則是探索這些未知世界的船隻。我一直對物質的微觀結構如何決定宏觀性質的問題深感興趣,電子顯微學正是解決這個問題的關鍵技術。當我看到這本書的標題時,我的第一反應是,這絕對是我需要的!我迫不及待地想知道書中是如何講解電子顯微鏡的工作原理的,特彆是關於電子與物質相互作用産生的各種信號,如二次電子、背散射電子、透射電子、俄歇電子、X射綫等,以及這些信號是如何被探測和轉化為我們所看到的圖像的。我非常期待書中能夠對掃描電子顯微鏡(SEM)和透射電子顯微鏡(TEM)進行詳細的比較和闡述,包括它們在分辨率、穿透深度、樣品製備要求以及成像模式上的差異。書中對“分析”和“錶徵”的側重,尤其吸引我。我希望書中能夠提供詳細的分析方法,例如如何通過電子顯微圖像來定量分析顆粒的尺寸分布、形貌特徵、孔隙率等。我還希望能學習到如何利用電子顯微鏡來識彆和錶徵材料中的各種缺陷,如位錯、晶界、夾雜物等,以及這些缺陷對材料性能的影響。對於透射電子顯微鏡,我非常期待書中能夠深入講解其在高分辨率成像方麵的能力,以及如何利用它來觀察原子排列、晶格缺陷等。我也對書中可能涉及的電子衍射技術和能量色散X射綫譜(EDS)等成分分析技術充滿期待,希望瞭解如何將這些技術與成像技術相結閤,從而實現對材料微觀組織、結構和成分的全麵錶徵。這本書的齣現,如同一次召喚,邀請我深入微觀世界的奧秘,我將懷揣著求知若渴的心情,開啓這段探索之旅。

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《微觀組織的分析電子顯微學錶徵(英文版)》這個書名,就好似為我打開瞭一扇通往物質內在世界的大門。我一直對材料的微觀結構與其宏觀性能之間的深刻聯係感到著迷,而電子顯微鏡正是揭示這種聯係的強大工具。這本書恰好觸及瞭我最感興趣的領域。我希望這本書能夠提供詳盡的電子顯微鏡原理介紹,包括各種成像模式的成像機製,例如二次電子、背散射電子、透射電子等,以及這些成像模式分彆能提供哪些關於樣品形貌、成分對比、內部結構等方麵的信息。我特彆期待書中對不同類型電子顯微鏡的深入比較,比如掃描電子顯微鏡(SEM)和透射電子顯微鏡(TEM)在分辨率、穿透能力、樣品製備要求以及它們分彆適閤解決哪些類型的科學問題。這本書的核心在於“分析”與“錶徵”,因此,我熱切地希望書中能夠提供一套係統化的微觀組織分析方法。例如,如何從電子顯微圖像中定量地提取信息,包括晶粒尺寸的測量、形貌特徵的描述、缺陷的識彆與定量等。我尤其關心的是,針對不同材料體係(如金屬、陶瓷、聚閤物、生物樣品等),書中是否會提供具體的樣品製備和分析策略。書中對電子衍射技術的講解也讓我充滿期待,因為它能夠提供晶體結構和取嚮等關鍵信息。另外,能量色散X射綫譜(EDS)等成分分析技術與電子顯微成像的結閤,能夠實現對微觀組織成分的同步分析,這一點也是我非常想深入瞭解的。這本書的齣現,無疑是為我提供瞭一把解鎖微觀世界奧秘的金鑰匙,我將滿懷期待地去探索其中的知識。

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《微觀組織的分析電子顯微學錶徵(英文版)》——這個書名本身就充滿瞭學術的深度和技術的魅力。我對物質的微觀結構如何決定其宏觀性能這一核心問題一直充滿好奇,而電子顯微鏡正是揭示這些微觀奧秘的強大工具。這本書的齣現,恰好滿足瞭我對這一領域深入探索的渴望。我希望書中能夠從基礎開始,詳細講解電子顯微鏡的工作原理,包括電子的産生、加速、聚焦、掃描以及與樣品相互作用所産生的各種信號(如二次電子、背散射電子、透射電子、俄歇電子、X射綫等)的形成和探測機製。我非常期待書中能夠對掃描電子顯微鏡(SEM)和透射電子顯微鏡(TEM)進行深入的比較和闡述,包括它們的分辨率、穿透深度、樣品製備要求以及各自在不同研究問題中的應用優勢。這本書的重點在於“分析”和“錶徵”,因此,我迫切希望書中能夠提供一套係統化的微觀組織分析方法,包括如何從電子顯微圖像中進行定量分析,如晶粒尺寸的測量、形貌特徵的描述、缺陷的識彆與定量等。我特彆想瞭解書中是否會針對不同材料體係(如金屬、陶瓷、聚閤物、生物樣品等)提供具體的樣品製備和分析策略。此外,我對電子衍射技術和能量色散X射綫譜(EDS)等成分分析技術在電子顯微學中的應用充滿期待,希望能學習如何將這些技術與成像技術相結閤,實現對材料微觀組織結構和成分的全麵錶徵。這本書無疑將成為我探索微觀世界、提升科研能力的寶貴財富。

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