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半导体的检测与分析(XX版) 许振嘉下载 mobi epub pdf 电子书 2025

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许振嘉著

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发表于2025-06-02

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图书介绍

店铺：典则俊雅图书专营店

出版社：科学出版社有限责任公司

ISBN：9787030194626

商品编码：29866592835

包装：圆脊精装

出版时间：2018-03-01

图书描述

图书基本信息,请以下列介绍为准
书名	半导体的检测与分析(XX版)
作者	许振嘉
定价	98.00元
ISBN号	9787030194626
出版社	科学出版社有限责任公司
出版日期	2018-03-01
版次	1

其他参考信息（以实物为准）
装帧：圆脊精装	开本：128开	重量：0.4
版次：1	字数：	页码：

插图

目录

内容提要

本书的主要内容包括：高分辨X射线衍射，光学性质检测分析，表面和薄膜成分分析，扫描探针显微学在半导体中的运用，透射电子显微学及其在半导体研究中的应用，半导体深中心的表征。以上内容包括了目前半导体材料（第三代半导体和低维结构半导体材料）物理表征的实验技术和具体应用成果。限于篇幅，不能面面俱到，所以有些实验技术，如LEED，RHEED，SIMS等，本书并未包括在内，这些问题将在*章综述里面简略阐述