發表於2024-11-01
圖書基本信息,請以下列介紹為準 | |||
書名 | 數字集成電路測試優化 | ||
作者 | 李曉維 | ||
定價 | 58.00元 | ||
ISBN號 | 9787030278944 | ||
齣版社 | 科學齣版社 | ||
齣版日期 | 206-01 | ||
版次 | 1 |
其他參考信息(以實物為準) | |||
裝幀:精裝 | 開本:16開 | 重量:0.740 | |
版次:1 | 字數: | 頁碼: |
插圖 | |
目錄 | |
內容提要 | |
本書內容涉及數字集成電路測試優化的三個主要方麵:測試壓縮、測試功耗優化、測試調度。包括測試數據壓縮的基本原理,激勵壓縮的有效方法,測試響應壓縮方法和電路結構;測試功耗優化的基本原理,靜態測試功耗優化方法,動態測試功耗優化;測試壓縮與測試功耗協同優化方法;測試壓縮與測試調度協同優化方法;並以産64位高性能處理器(龍芯2E和2F)為例介紹瞭相關成果的應用。 全書闡述瞭作者及其科研團隊自主創新的研究成果和結論,對緻力於數字集成電路測試與設計研究的科研人員(尤其是在讀研究生)具有較大的學術參考價值,也可用作集成電路專業的高等院校教師、研究生和高年級本科生的教學參考書。 |
編輯推薦 | |
作者介紹 | |
序言 | |
數字集成電路測試優化 李曉維 下載 mobi pdf epub txt 電子書 格式 2024
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