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出版社： 科学出版社
ISBN：9787030278944
商品编码：29839548148
包装：精装
出版时间：2010-06-01
具体描述
| 图书基本信息,请以下列介绍为准 | |||
| 书名 | 数字集成电路测试优化 | ||
| 作者 | 李晓维 | ||
| 定价 | 58.00元 | ||
| ISBN号 | 9787030278944 | ||
| 出版社 | 科学出版社 | ||
| 出版日期 | 206-01 | ||
| 版次 | 1 | ||
| 其他参考信息（以实物为准） | |||
| 装帧：精装 | 开本：16开 | 重量：0.740 | |
| 版次：1 | 字数： | 页码： | |
| 插图 | |
| 目录 | |
| 内容提要 | |
| 本书内容涉及数字集成电路测试优化的三个主要方面：测试压缩、测试功耗优化、测试调度。包括测试数据压缩的基本原理，激励压缩的有效方法，测试响应压缩方法和电路结构；测试功耗优化的基本原理，静态测试功耗优化方法，动态测试功耗优化；测试压缩与测试功耗协同优化方法；测试压缩与测试调度协同优化方法；并以产64位高性能处理器(龙芯2E和2F)为例介绍了相关成果的应用。 全书阐述了作者及其科研团队自主创新的研究成果和结论，对致力于数字集成电路测试与设计研究的科研人员(尤其是在读研究生)具有较大的学术参考价值，也可用作集成电路专业的高等院校教师、研究生和高年级本科生的教学参考书。 |
| 编辑推荐 | |
| 作者介绍 | |
| 序言 | |
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