統計過程控製理論與實踐——SPC、Cpk、DOE、MSA、PPM技術 下載 mobi epub pdf 電子書 2024

☆☆☆☆☆
簡體網頁||繁體網頁



點擊這裡下載

類似圖書 點擊查看全場最低價

---

內容簡介

本書是針對製造過程質量控製方麵的實用教材。全書以電子元器件為對象，基於質量可靠性的基本理念，全麵論述在製造過程中實施質量控製與評價的必要性、基本概念和原理,以及關鍵技術與應用。本書重點介紹SPC、Cpk、DOE、MSA和PPM技術的基本原理和應用方法，並結閤案例，剖析在實際應用過程中齣現的特殊問題和解決途徑，重點在於幫助讀者掌握如何解決實際應用中的問題。本書介紹的基本原理和應用技術也適用於各類製造過程的質量控製和評價。 本書可作為高等學校相關**的教材、參考用書，同時對從事質量與可靠性工作的技術人員和管理人員也是一本實用的參考資料。

圖書目錄

第１章 概論
1.1 關於産品質量可靠性的基本理念
1.1.1 保證、評價産品質量可靠性常規方法存在的問題
1.1.2 關於質量可靠性的基本理念
1.1.3 保證和評價産品質量可靠性的相關技術
1.2 生産過程統計質量控製的技術流程
1.2.1 製造過程對參數一緻性和穩定性的影響
1.2.2 統計過程控製的目的和相關技術
1.2.3 實施質量控製的技術流程
1.2.4 實施SPC的基本條件
思考題與習題
第2章 工序能力指數與6σ設計
2.1 預備知識——工藝參數分布規律的定量描述
2.1.1 正態分布函數
2.1.2 正態分布特徵值的統計特性
2.2 工序能力的定量錶徵和工序能力指數
2.2.1 工藝參數一緻性與工序能力
2.2.2 工序能力指數（Cp）
2.2.3 實際工序能力指數(Cpk)
2.2.4 工業生産對工序能力指數的要求
2.3 工序能力指數的計算
2.3.1 均值(μ)和標準偏差(σ)的計算方法
2.3.2 工序能力指數計算實例
2.4 6σ設計與等效工序能力指數
2.4.1 從工序能力指數理解6σ設計的含義和目標
2.4.2 pσ設計水平與DPMO
2.4.3 基於6σ設計理念的ECpk
2.4.4 ECpk計算中涉及的兩個算法
思考題與習題
第3章 工序能力指數評價的特殊模型
3.1 工序能力指數常規計算方法的適用條件
3.2 非正態分布工藝參數的工序能力指數計算方法
3.2.1 非正態分布工藝參數數據
3.2.2 計算方法一：基於數據轉換的計算方法
3.2.3 計算方法二：基於工藝成品率的計算方法
3.2.4 非正態分布參數工序能力指數計算方法討論
3.3 多參數情況工序能力指數計算方法
3.3.1 多變量工序能力指數MCpk計算思路
3.3.2 MCpk計算步驟
3.3.3 MCpk應用實例
3.3.4 多元正態分布函數的高精度積分算法
3.4 計件值工序能力指數
3.4.1 描述計件值數據分布規律的二項分布
3.4.2 計件值工序能力指數的計算思路
3.4.3 計件值工序能力指數計算方法一： 每批樣本量相同
3.4.4 計件值工序能力指數計算方法二： 每批樣本量不相同
3.5 計點值工序能力指數
3.5.1 描述計點值數據分布規律的泊鬆分布
3.5.2 計點值工序能力指數的計算思路
3.5.3 計點值工序能力指數計算方法一： 每批樣本量相同
3.5.4 計點值工序能力指數計算方法二： 每批樣本量不相同
思考題與習題
第4章 統計過程控製與常規控製圖
4.1 SPC與控製圖
4.1.1 SPC基本概念
4.1.2 “統計受控”與“加工結果是否閤格”的關係
4.1.3 控製圖的結構和作用
4.1.4 控製限的計算原理
4.1.5 工藝過程受控/失控狀態的判斷規則
4.1.6 常規控製圖的分類
4.2 常規計量值控製圖
4.2.1 “均值—標準偏差”控製圖
4.2.2 “均值—極差”控製圖
4.2.3 “單值—移動極差”控製圖
4.3 常規計件值控製圖
4.3.1 不閤格品數控製圖(np圖)
4.3.2 不閤格品率控製圖(p圖)
4.3.3 通用不閤格品率控製圖(p�����璗圖)
4.4 常規計點值控製圖
4.4.1 缺陷數控製圖（c圖）
4.4.2 單位缺陷數控製圖（u圖）
4.4.3 通用單位缺陷數控製圖(u�璗圖)
4.5 常規控製圖的應用
4.5.1 關於“分析用控製圖”與“控製用控製圖”
4.5.2 常規計量值控製圖應用實例
4.5.3 常規計數值控製圖應用實例
思考題與習題
第5章 特殊控製圖
5.1 特殊控製圖的基本原理
5.1.1 常規控製圖的適用條件
5.1.2 需要采用特殊控製圖的典型情況
5.1.3 特殊控製圖的基本原理
5.2 適用於非正態分布數據的控製圖
5.2.1 非正態分布數據的控製圖分析方法
5.2.2 製造過程非正態分布數據控製圖實例
5.2.3 非製造過程中非正態分布數據控製圖實例
5.3 適用於多品種情況的迴歸控製圖
5.3.1 迴歸控製圖原理
5.3.2 迴歸方法一： 標準正態處理方法與應用
5.3.3 迴歸方法二：“相對偏差”方法與應用
5.3.4 關於“雙重迴歸”情況
5.3.5 對多品種情況的一種不正確處理方法
5.4 適用於多品種小批量情況的T�睰控製圖
5.4.1 T統計量與T控製圖
5.4.2 K統計量與K控製圖
5.4.3 T�睰控製圖的特點
5.4.4 T�睰控製圖應用實例
5.5 適用於批加工參數的嵌套控製圖
5.5.1 “批加工”生産特點與參數的嵌套性
5.5.2 工藝參數數據的嵌套性檢驗
5.5.3 一階嵌套控製圖模型與應用
5.5.4 二階嵌套控製圖模型與應用
5.6 適用於多參數情況的多變量控製圖
5.6.1 多參數問題與多變量控製圖
5.6.2 多變量T��2控製圖
5.6.3 單值多變量T��2控製圖
5.6.4 多變量控製圖的應用實例
5.6.5 針對多參數問題的一種不正確處理方法
5.7 綜閤控製圖
5.7.1 關於綜閤控製圖
5.7.2 綜閤控製圖應用實例
5.8 分位數控製圖
5.8.1 分位數控製圖的原理
5.8.2 計點值分位數控製圖
5.8.3 計件值分位數控製圖
5.8.4 適用於非正態計量值的分位數控製圖
5.9 缺陷成團控製圖
5.9.1 缺陷成團模型
5.9.2 缺陷成團控製圖
5.9.3 缺陷成團控製圖應用實例
思考題與習題
第6章 Cpk和SPC應用實踐
6.1 工序能力指數評價實施方案的製訂
6.1.1 Cpk評價流程和實施方案的製訂要求
6.1.2 關鍵工序過程節點與關鍵工藝參數
6.1.3 用於Cpk評價的數據采集
6.1.4 工序能力指數計算
6.2 提升Cpk的技術途徑
6.2.1 提升工序能力指數的技術途徑
6.2.2 工序能力指數提升實例
6.3 SPC實施方案的製訂
6.3.1 SPC實施方案的製訂要求
6.3.2 用於SPC評價的數據采集
6.3.3 控製圖的正確選用
6.4 失控問題分析
6.4.1 失控問題分析的基本思路
6.4.2 控製圖綜閤應用分析實例1
6.4.3 控製圖綜閤應用分析實例2
6.4.4 控製圖綜閤應用分析實例3
思考題與習題
第7章 過程改進工具——DOE技術
7.1 DOE的含義與作用
7.1.1 引例——PCB挖槽工藝的優化
7.1.2 什麼是試驗設計
7.1.3 試驗設計中基本術語
7.1.4 符號化與效應計算
7.1.5 試驗設計的作用
7.2 試驗設計的基本步驟與關鍵技術
7.2.1 試驗設計的基本步驟
7.2.2 步驟1：明確試驗目的、確定錶徵對象
7.2.3 步驟2：確定影響錶徵對象的因素及其變化範圍
7.2.4 步驟3：選擇試驗類型、製訂試驗方案
7.2.5 步驟4：實施試驗、采集數據
7.2.6 步驟5：數據分析 H
7.2.7 步驟6：基於錶徵模型實現過程的控製與優化
7.2.8 步驟7：結論與建議
7.2.9 試驗設計類型
7.2.10 試驗設計數據分析方法
7.3 方差分析
7.3.1 一個示例——方差分析的作用
7.3.2 單因素試驗的方差分析
7.3.3 多因素試驗的方差分析
7.3.4 方差分析的基本假設
7.3.5 數據轉換
7.4 迴歸分析
7.4.1 迴歸分析的基本概念
7.4.2 一元綫性迴歸
7.4.3 一元非綫性迴歸
7.5 兩水平全因子試驗設計
7.5.1 因子試驗設計與兩水平因子設計
7.5.2 兩水平全因子試驗設計實例——外延層生長工藝
7.5.3 基於模型的優化策略——晶體外延層生長工藝的優化
7.5.4 討論——試驗類型的選取
7.6 試驗設計應用實例與分析
7.6.1 微電路熱氧化工藝的錶徵與優化
7.6.2 基於D優化的等離子刻蝕工藝的錶徵與優化
思考題與習題
第8章 常用的統計分析工具
8.1 直方圖
8.1.1 直方圖的含義與作用
8.1.2 直方圖的繪製步驟
8.1.3 直方圖的使用
8.2 概率紙
8.2.1 什麼是概率紙
8.2.2 正態概率紙
8.2.3 對數正態概率紙應用實例
8.3 箱綫圖
8.3.1 箱綫圖的構成
8.3.2 箱綫圖的應用
8.4 檢查錶和分層法
8.4.1 檢查錶
8.4.2 分層法
8.5 Pareto圖
8.5.1 Pareto圖的基本構成
8.5.2 Pareto圖的其他應用方式
8.6 因果分析圖
8.6.1 因果分析圖的構成
8.6.2 因果分析圖的繪製步驟
8.7 散點圖
8.7.1 散點圖的構成
8.7.2 散點圖上顯示的相關關係
思考題與習題
第9章 MSA與測量儀器精密度評價
9.1 測量儀器評價的相關概念和基本要求
9.1.1 測量儀器評價的相關概念
9.1.2 測量儀器評價的基本要求
9.2 測量儀器精密度和分辨力對SPC評價結果的影響
9.2.1 儀器精密度對工序能力指數評價結果的影響
9.2.2 儀器分辨力對參數分布評價結果的影響
9.2.3 儀器分辨力對SPC評價結果的影響
9.2.4 儀器精密度對産品閤格與否評價結果的影響
9.2.5 測量儀器精密度的評價流程
9.3 測量儀器精密度評價的步驟
9.3.1 步驟1—數據采集
9.3.2 步驟2-統計受控狀態的評價
9.3.3 步驟3—“重復性”的評價
9.3.4 步驟4—“再現性”的評價
9.3.5 步驟5—“精密度”的評價
9.3.6 步驟6—計算總的標準偏差σ總
9.3.7 步驟7-σ儀器與σ總之比的評價
9.4 儀器精密度評價實例
思考題與習題
第10章 齣廠産品不閤格水平PPM評價
10.1 PPM評價的概念和要求
10.1.1 PPM評價的基本原理
10.1.2 PPM評價數據的采集途徑
10.2 産品齣廠平均質量水平的評定
10.2.1 PPM分類
10.2.2 PPM計算方法一
10.2.3 PPM計算方法二
思考題與習題
參考資料
統計過程控製理論與實踐——SPC、Cpk、DOE、MSA、PPM技術 下載 mobi epub pdf txt 電子書 格式

評分☆☆☆☆☆

評分☆☆☆☆☆

評分☆☆☆☆☆

評分☆☆☆☆☆

評分☆☆☆☆☆

評分☆☆☆☆☆

評分☆☆☆☆☆

評分☆☆☆☆☆

評分☆☆☆☆☆

類似圖書 點擊查看全場最低價