邊界掃描測試技術 下載 mobi epub pdf 電子書 2024

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內容簡介

　　《邊界掃描測試技術》主要從邊界掃描技術的産生、原理以及應用三個方麵，對邊界掃描技術作瞭較為詳細的介紹。包括用於數字電路測試的標準IEEE1149.1、混閤電路測試標準IEEE1149.4、係統級測試標準IEEE1149.5、高速數字網絡邊界掃描測試標準IEEE1149.6，邊界掃描技術在芯片設計中的應用，網絡型邊界掃描測試控製器的設計以及相關可測試性及工程應用設計實例等內容。
　　《邊界掃描測試技術》可作為高等院校電子信息、通信、測試測控、自動化等電子類學科專業高年級學生或研究生的課程教材使用，也可作為電子類相關領域工程技術人員的參考資料。

內頁插圖

目錄

第一章 緒論
第二章 邊界掃描測試原理和測試方法
第三章 邊界掃描描述語言
第四章 邊界掃描測試算法
第五章 基於邊界掃描的可測試性設計
第六章 混閤信號電路邊界掃描測試
第七章 係統級邊界掃描測試技術
第八章 高速數字網絡邊界掃描測試
第九章 邊界掃描技術在芯片設計中的應用
第十章 網絡型邊界掃描測試控製器的設計
第十一章 邊界掃描測試工具的應用
第十二章 基於邊界掃描技術的測試係統設計
參考文獻

精彩書摘

　　第一章 緒論
　　1.1 測試技術的發展
　　電子測試技術、微電子技術和計算機技術被認為是現代電子設備係統的三大基礎技術。在科學技術高度發展的今天，測試技術將處於各種現代電子設備設計和製造的首位，並成為生産率、製造能力及實用性水平的重要標誌。目前，測試成本占設備係統總成本的比例可達50％-70％，西方發達國傢均投巨資研究電子測試技術，研製自動測試設備（ATE）和自動測試係統（ATS），並且成效顯著。微電子技術和計算機技術的發展極大地促進瞭電子測試技術和儀器的發展，使常規的測試原理和測試儀器正被全新的概念和形式所替代。
　　隨著集成電路的發展，芯片封裝技術不斷朝著高度集成化、高性能化、多引綫和細間距化方嚮發展。錶麵安裝器件（SMD）、多芯片組件（MCM）、多層印製闆（MPCB）等技術在電路係統中的應用使得器件安裝密度不斷提高。所有這些變化帶來的是係統集成度的提高，物理尺寸的減小，同時可供測試的節點間距也越來越小，有的甚至完全成為隱性的不可達節點。針床、探針等傳統的測試方法已經很難對這種電路闆進行有效的測試。為此，迫切需要一種新的測試理念和測試技術來解決傳統的測試方法所麵臨的難題。
　　1.1.1 自動測試設備的齣現
　　最初的數字係統測試者們通常都沒有使用自動測試設備，他們通過在工作颱上擺滿各種儀錶，如示波器、數字和模擬信號發生器等，力圖逼真地顯現被測係統的工作環境，這被稱為“熱實體模型”。有時候會把一個已知完好的設備當作實體模型來測試剛剛下綫的産品，這種方法在今天仍然被廣泛使用。這種方法的主要問題是，測試工作者必須是一個經驗豐富的工程師，並且對被測件和實體模型測試颱都非常熟悉，這樣纔能構建各種測試激勵以及評估測試結果。
　　自動測試設備開發的目的是為被測係統提供一個通用的測試環境，該環境需要提供被測件的電源以及可編程的數字信號驅動和接收設備。通常被測係統和測試環境之間需要一個適配器來進行信號輸入輸齣的轉換，常見的做法是測試者提供一個測試環境和被測係統之間的適配器，這便是著名的邊界連接器功能測試法。從此，一個通用的熱實體模型測試方法逐漸形成。
　　當然，這樣的測試方法仍不成熟，首先，它隻是近似地實現通用；其次，它也並不是被測係統的最終測試環境。之所以說它是“近似地實現通用”，是因為這種方法確有許多不足，如産品更新換代十分迅速，但測試設備很難跟得上設計師們創新和提速的步伐；又如編寫測試軟件，是個浩大繁瑣的工程，測試人員和設計師們都要花費大量的精力。至今為止，為被測單元功能建立模型和産生測試激勵依然是功能測試的難點。
　　……

前言/序言

　　早期對數字電路的測試與診斷，主要是依靠工程技術人員自己的豐富經驗和理論知識，並藉助一些常規的工具來完成的。隨著係統日趨復雜以及數字集成電路的迅速發展，對電路闆的故障診斷將不能再依賴於常規儀錶和傳統的人工分析測試生成的方法。
　　隨著電子係統的數字化進程，數字信號測試在PCB和電子器件測試中所承擔的作用也Et益凸顯。在很多情況下模擬信號也可以轉換為數字信號進行測試，因此對數字係統測試技術的研究越來越重要。邊界掃描技術的齣現是可測試性設計和測試思想的一次重大飛躍，它提供瞭一種完整的、標準化的VLSI電路可測試性設計和測試方法；它剋服瞭傳統測試方法在測試數字電路闆時的技術障礙，利用該技術可以實現芯片級、電路闆級以及係統級等不同層次的測試，這對於提升數字係統的可測試性及可維護性具有十分重要的意義。
　　中國電子科技集團公司第二十八研究所（簡稱三十八所）在産品研製過程中，也深刻意識到瞭測試技術的重要性。由於早期設計的電路闆沒有考慮可測試性設計，造成後期測試和維修的成本急劇增加。為瞭解決該問題，三十八所於1999年引入邊界掃描測試技術，組建瞭專、業測試團隊，著重研究數字電路的可測試性設計及測試方法，産生瞭基於邊界掃描技術時可測試性設計企業標準，從設計初始到生産調試嚴格執行標準規範，大大提高瞭雷達數字係統的可測試性及BIT水平。此外，三十八所還利用該技術研製自動測試設備，纍計測試和維修瞭數韆塊雷達數字電路闆，大幅度提升瞭生産調試效率，並降低瞭售後服務成本。
　　該書齣版之前已作為學習資料在三十八所內部進行過多次技術交流，適閤作為測試與故障檢測技術方麵的教材，也可作為廣大測試和電子工程技術人員的參考書。
　　相信該書的齣版會對我國數字電路係統的測試性及保障性的提高起到積極作用。但是由於作者水平有限，該書難免存在錯誤和不當之處，還望使用本書的工程師、教師、學生及各界人十不吝批評指正。
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