边界扫描测试技术 下载 mobi epub pdf 电子书 2024

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内容简介

　　《边界扫描测试技术》主要从边界扫描技术的产生、原理以及应用三个方面，对边界扫描技术作了较为详细的介绍。包括用于数字电路测试的标准IEEE1149.1、混合电路测试标准IEEE1149.4、系统级测试标准IEEE1149.5、高速数字网络边界扫描测试标准IEEE1149.6，边界扫描技术在芯片设计中的应用，网络型边界扫描测试控制器的设计以及相关可测试性及工程应用设计实例等内容。
　　《边界扫描测试技术》可作为高等院校电子信息、通信、测试测控、自动化等电子类学科专业高年级学生或研究生的课程教材使用，也可作为电子类相关领域工程技术人员的参考资料。

内页插图

目录

第一章 绪论
第二章 边界扫描测试原理和测试方法
第三章 边界扫描描述语言
第四章 边界扫描测试算法
第五章 基于边界扫描的可测试性设计
第六章 混合信号电路边界扫描测试
第七章 系统级边界扫描测试技术
第八章 高速数字网络边界扫描测试
第九章 边界扫描技术在芯片设计中的应用
第十章 网络型边界扫描测试控制器的设计
第十一章 边界扫描测试工具的应用
第十二章 基于边界扫描技术的测试系统设计
参考文献

精彩书摘

　　第一章 绪论
　　1.1 测试技术的发展
　　电子测试技术、微电子技术和计算机技术被认为是现代电子设备系统的三大基础技术。在科学技术高度发展的今天，测试技术将处于各种现代电子设备设计和制造的首位，并成为生产率、制造能力及实用性水平的重要标志。目前，测试成本占设备系统总成本的比例可达50％-70％，西方发达国家均投巨资研究电子测试技术，研制自动测试设备（ATE）和自动测试系统（ATS），并且成效显著。微电子技术和计算机技术的发展极大地促进了电子测试技术和仪器的发展，使常规的测试原理和测试仪器正被全新的概念和形式所替代。
　　随着集成电路的发展，芯片封装技术不断朝着高度集成化、高性能化、多引线和细间距化方向发展。表面安装器件（SMD）、多芯片组件（MCM）、多层印制板（MPCB）等技术在电路系统中的应用使得器件安装密度不断提高。所有这些变化带来的是系统集成度的提高，物理尺寸的减小，同时可供测试的节点间距也越来越小，有的甚至完全成为隐性的不可达节点。针床、探针等传统的测试方法已经很难对这种电路板进行有效的测试。为此，迫切需要一种新的测试理念和测试技术来解决传统的测试方法所面临的难题。
　　1.1.1 自动测试设备的出现
　　最初的数字系统测试者们通常都没有使用自动测试设备，他们通过在工作台上摆满各种仪表，如示波器、数字和模拟信号发生器等，力图逼真地显现被测系统的工作环境，这被称为“热实体模型”。有时候会把一个已知完好的设备当作实体模型来测试刚刚下线的产品，这种方法在今天仍然被广泛使用。这种方法的主要问题是，测试工作者必须是一个经验丰富的工程师，并且对被测件和实体模型测试台都非常熟悉，这样才能构建各种测试激励以及评估测试结果。
　　自动测试设备开发的目的是为被测系统提供一个通用的测试环境，该环境需要提供被测件的电源以及可编程的数字信号驱动和接收设备。通常被测系统和测试环境之间需要一个适配器来进行信号输入输出的转换，常见的做法是测试者提供一个测试环境和被测系统之间的适配器，这便是著名的边界连接器功能测试法。从此，一个通用的热实体模型测试方法逐渐形成。
　　当然，这样的测试方法仍不成熟，首先，它只是近似地实现通用；其次，它也并不是被测系统的最终测试环境。之所以说它是“近似地实现通用”，是因为这种方法确有许多不足，如产品更新换代十分迅速，但测试设备很难跟得上设计师们创新和提速的步伐；又如编写测试软件，是个浩大繁琐的工程，测试人员和设计师们都要花费大量的精力。至今为止，为被测单元功能建立模型和产生测试激励依然是功能测试的难点。
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前言/序言

　　早期对数字电路的测试与诊断，主要是依靠工程技术人员自己的丰富经验和理论知识，并借助一些常规的工具来完成的。随着系统日趋复杂以及数字集成电路的迅速发展，对电路板的故障诊断将不能再依赖于常规仪表和传统的人工分析测试生成的方法。
　　随着电子系统的数字化进程，数字信号测试在PCB和电子器件测试中所承担的作用也Et益凸显。在很多情况下模拟信号也可以转换为数字信号进行测试，因此对数字系统测试技术的研究越来越重要。边界扫描技术的出现是可测试性设计和测试思想的一次重大飞跃，它提供了一种完整的、标准化的VLSI电路可测试性设计和测试方法；它克服了传统测试方法在测试数字电路板时的技术障碍，利用该技术可以实现芯片级、电路板级以及系统级等不同层次的测试，这对于提升数字系统的可测试性及可维护性具有十分重要的意义。
　　中国电子科技集团公司第二十八研究所（简称三十八所）在产品研制过程中，也深刻意识到了测试技术的重要性。由于早期设计的电路板没有考虑可测试性设计，造成后期测试和维修的成本急剧增加。为了解决该问题，三十八所于1999年引入边界扫描测试技术，组建了专、业测试团队，着重研究数字电路的可测试性设计及测试方法，产生了基于边界扫描技术时可测试性设计企业标准，从设计初始到生产调试严格执行标准规范，大大提高了雷达数字系统的可测试性及BIT水平。此外，三十八所还利用该技术研制自动测试设备，累计测试和维修了数千块雷达数字电路板，大幅度提升了生产调试效率，并降低了售后服务成本。
　　该书出版之前已作为学习资料在三十八所内部进行过多次技术交流，适合作为测试与故障检测技术方面的教材，也可作为广大测试和电子工程技术人员的参考书。
　　相信该书的出版会对我国数字电路系统的测试性及保障性的提高起到积极作用。但是由于作者水平有限，该书难免存在错误和不当之处，还望使用本书的工程师、教师、学生及各界人十不吝批评指正。
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