发表于2024-10-31
基本信息
书名:微电路国家标准汇编 基础及测试方法卷
定价:190.00元
作者:中国标准出版社第四编辑室
出版社:中国标准出版社
出版日期:2008-02-01
ISBN:9787506648011
字数:
页码:
版次:1
装帧:平装
开本:大16开
商品重量:1.162kg
编辑推荐
内容提要
为便于广大读者查阅和使用微电路国家标准,我社编辑出版《微电路国家标准汇编》,汇编收入截至2007年底前发布实施的国家标准,分两卷出版。本汇编为《微电路国家标准汇编 基础及测试方法卷》,共收集有关国家标准23项。
本汇编在使用时应读者注意以下两点:
1.收入标准的出版年代不尽相同,对于其中的量和单位不统一之处及各标准格式不一致之处未做改动。
2.本汇编收集的国家标准的属性已在本目录上标明(GB或GB/T),标准年号用四拉数字表示。鉴于部分标准是在清理整顿前出版的,现尚未修订,故正文部分保留原样。
目录
基础标准
GB/T 2900.66-2004 电工术语半导体器件和集成电路
GB/T 3430-1989半导体集成电路型号命名方法
GB/T 3431.2-1986半导体集成电路文字符号 引出端功能符号
GB/T 4728.12-1996 电气简图用图形符号 2部分:二进制逻辑元件
GB/T 7092-1993半导体集成电路外形尺寸
GB/T 9178-1988 集成电路术语
GB/T 12842-1991 膜集成电路和混合膜集成电路术语
GB/T 14113-1993半导体集成电路封装术语
GB/T 15138-1994 膜集成电路和混合集成电路外形尺寸
GB/T 20296-2006 集成电路记忆法与符号
测试方法标准
GB/T 4377-1996半导体集成电路 电压调整器测试方法的基本原理
GB/T 6798-1996 半导体集成电路 电压比较器测试方法的基本原理
GB/T 14028-1992半导体集成电路模拟开关测试方法的基本原理
GB/T 14029-1992半导体集成电路模拟乘法器测试方法的基本原理
GB/T 14030-1992 半导体集成电路时基电路测试方法的基本原理
GB/T 14031-1992半导体集成电路模拟锁相环测试方法的基本原理
GB/T 14032-1992半导体集成电路数字锁相环测试方法的基本原理
GB/T 14114-1993 半导体集成电路电压/频率和频率/电压转换器测试方法的基本原理
GB/T 14115-1993 半导体集成电路采样/保持放大器测试方法的基本原理
GB/T 14862-1993半导体集成电路封装结到外壳热阻测试方法
GB/T 16526-1996封装引线间电容和引线负载电容测试方法
GB/T 19248-2003封装引线电阻测试方法
GB/T 19403.1-2003半导体器件集成电路1部分:篇:半导体集成电路内部目检(不包括混合电路)
作者介绍
文摘
序言
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