店铺： 博远慧达图书专营店
出版社： 电子工业出版社
ISBN：9787121339011
商品编码：29711592909
包装：平装
出版时间：2018-04-01
具体描述
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| 图书基本信息 | |
| 图书名称 | 芯片验证漫游指南――从系统理论到UVM的验证全视界 |
| 作者 | 刘斌 |
| 定价 | 99.00元 |
| 出版社 | 电子工业出版社 |
| ISBN | 9787121339011 |
| 出版日期 | 2018-04-01 |
| 字数 | 896000 |
| 页码 | 560 |
| 版次 | 1 |
| 装帧 | 平装 |
| 开本 | 16开 |
| 商品重量 | 0.4Kg |
| 内容简介 | |
验证专家刘斌（路桑）向您全面介绍芯片验证，从验证的理论，到SystemVerilog语言和UVM验证方法学，再到高级验证项目话题。这本综合性、实用性的验证理论和编程方面的图书，针对芯片验证领域不同级别的验证工程师，给出由浅入深的技术指南：学习验证理论来认识验证流程和标准，学习SystemVerilog语言和UVM方法学来掌握目前主流的动态验证技术，了解高级验证话题在今后遇到相关问题时可以参考。 |
| 作者简介 | |
| 刘斌（路桑）目前是Intel公司的验证专家。在Intel移动通信事业部主持验证架构规划和方法学研究，担任过几款亿门级通信芯片的验证经理角色。在工程领域之外，他在西安电子科技大学和西安交通大学客座讲授芯片验证课程。创办的验证技术订阅号“路科验证”，目前已有超过10000名的订阅者。多次在设计验证行业国际会议和展览中发表论文，并做了富有特色的演讲。在西安交通大学取得微电子专业学士学位，在瑞典皇家理工学院取得芯片设计专业硕士学位。 |
| 目录 | |
| 编辑推荐 | |
| 文摘 | |
| 序言 | |
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