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BF:电子元器件失效分析技术 恩云飞著 电子工业出版社 9787121272301

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恩云飞著 著

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发表于2024-12-23

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图书介绍

店铺： 华裕京通图书专营店
出版社： 电子工业出版社
ISBN：9787121272301
商品编码：29378906148
包装：平装
出版时间：2015-11-01

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图书描述

基本信息

书名:电子元器件失效分析技术

定价：98.00元

售价：78.4元

作者:恩云飞著

出版社：电子工业出版社

出版日期：2015-11-01

ISBN：9787121272301

字数：

版次：1

装帧：平装

开本：16开

编辑推荐

本书是电子产品质量和可靠性方面的专业类书籍，既有基础理论，又有具体技术、方法流程和应用，可以为电子行业的相关工程人员提供很好的指导和帮助。

内容提要

本书是工程应用类书，主要介绍电子元器件失效分析技术。从失效分析概论、失效分析技术、失效分析方法和程序以及失效预防几个方面的内容，使读者全面系统地掌握失效分析方面的基础理论、基本概念，技术和设备、方法和流程，指导开展相关的失效分析工作，并了解失效预防的一些基本方法和手段。

目录

作者介绍

恩云飞，工业和信息化部电子第五研究所研究员，中国电子学会可靠性分会委员，中国电子学会真空电子分会委员，中国电子学会第八届理事会青年与志愿者工作委员会委员，广东省电子学会理事，《失效分析与预防》编委会委员，长期从事电子元器件可靠性工作，在电子元器件可靠性物理、评价及试验方法等方面取得显著研究成果，先后获省部级科技奖励10项，发表学术论文40余篇，申请及授权国家发明10余项。

文摘

序言


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