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出版社： 西安电子科技大学出版社
ISBN：9787560646022
商品编码：29344370240
包装：平装
出版时间：2017-10-01
具体描述
| 图书基本信息 | |
| 图书名称 | 高速复杂互连的串扰故障测试技术 |
| 作者 | 尚玉玲 |
| 定价 | 29.00元 |
| 出版社 | 西安电子科技大学出版社 |
| ISBN | 9787560646022 |
| 出版日期 | 2017-10-01 |
| 字数 | |
| 页码 | |
| 版次 | 1 |
| 装帧 | 平装 |
| 开本 | 16 |
| 商品重量 | 0.4Kg |
| 内容简介 | |
本书系统、深入地介绍了高速复杂互连的串扰测试基本理论、原理、技术与方法，主要内容涉及三个方面：高速复杂互连线串扰测试、高速复杂互连结构串扰测试、高速互连通路串扰故障的ATPG技术。书中以非理想互连线的渐进式串扰故障和复杂拓扑结构的串扰故障测试技术为核心，论述了复杂互连线串扰测试方法；以过孔、球栅阵列焊点等为对象，讨论复杂互连结构信号传输性能及等效电路、双路径复杂互连结构串扰及故障测试技术；以串扰尖峰脉冲及时延故障为对象，讨论高速互连通路串扰故障的ATPG技术。 n本书可作为从事电路与系统、电子信息技术、测控技术与仪器方向学术研究的科技人员及企事业单位管理人员的参考书，也可作为高等院校电路、计算机、机械制造、自动化等专业研究生和高年级本科生的教材。 n |
| 作者简介 | |
| 目录 | |
| 编辑推荐 | |
| 文摘 | |
| 序言 | |
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