发表于2024-12-21
书名: | 深入浅出SSD:固态存储核心技术、原理与实战|8004544 |
图书定价: | 89元 |
图书作者: | SSDFans |
出版社: | 机械工业出版社 |
出版日期: | 2018/6/1 0:00:00 |
ISBN号: | 9787111599791 |
开本: | 16开 |
页数: | 0 |
版次: | 1-1 |
内容简介 |
国内SSD领域的重要著作,由国内领先的SSD技术社区SSDFans的核心团队撰写。团队成员都是SSD领域的资深技术专家,来自SSD、NAND Flash和存储行业的各大公司,精通固件开发、驱动开发、硬件逻辑开发和SSD测试等技术。它从产品、技术和应用3个维度全面、详细地讲解了SSD的发展历史、产品形态、工作原理、整体架构,以及各个功能模块的原理和使用,从SSD的前端接口协议到FTL算法,再到后端的闪存和纠错,本书都有涉及。全书一共9章:第1章是对SSD的宏观介绍,包括SSD与HDD的区别、SSD的发展历史、SSD产品的各项关键指标、SSD的接口形态,以及SSD的市场情况的内容第2章详细讲解了SSD控制器和全闪存阵列,对SSD控制器的作用、内外SSD控制器厂商做了全面的介绍,包含多个案例。第3章对闪存的工作原理和各种特性,这为理解FTL算法打下了理论基础,因为FTL算法很多都是围绕着闪存特性设计的。本章还对新型存储介质3D XPoint做了介绍。第四4介绍了SSD的核心技术FTL的常用算法,包括地址映射、垃圾回收、磨损均衡、掉电处理、坏块管理等,让读者对SSD的内部工作原理有个比较清晰的认识。第5、6章讲解了SSD前端接口协议技术PCIe和NVMe。PCIe和NVMe正成为SSD接口和协议的趋势。PCIe/NVMe SSD较SATA/AHCI SSD有着更快的速度和更低的延时,因此无论是企业级和客户级SSD,都在慢慢转向PCIe/NVMe。第7章介绍了SSD的一些主流的性能测试软件、测试仪器和测试方法。,测试验证是SSD开发的一个重要环节,不经过测试验证的SSD是无法产品化的。第8章讲解了SATA/PCIe和NVMe中的电源管理技术。第9章介绍了闪存的纠错技术LDPC。闪存ECC纠错一般有BCH和LDPC,而LDPC正成为趋势和主流。 |
目录 |
赞誉 推荐序一 推荐序二 前言 第1章 SSD综述 1 1.1 引子 1 1.2 SSD vs HDD 3 1.3 固态存储及SSD技术发展史 6 1.4 SSD基本工作原理 11 1.5 SSD产品核心参数 13 1.5.1 基本信息剖析 15 1.5.2 性能剖析 18 1.5.3 寿命剖析 21 1.5.4 数据可靠性剖析 23 1.5.5 功耗和其他剖析 26 1.5.6 SSD系统兼容性 29 1.6 接口形态 30 1.6.1 2.5寸 32 1.6.2 M.2 32 1.6.3 BGA SSD 35 1.6.4 SDP 37 1.6.5 U.2 38 1.7 固态存储市场 38 1.7.1 SSD正在取代HDD 38 1.7.2 SSD、HDD应用场合 39 1.7.3 SSD市场情况 39 第2章 SSD主控和全闪存阵列 41 2.1 SSD系统架构 41 2.1.1 前端 42 2.1.2 主控CPU 45 2.1.3 后端 45 2.2 SSD主控厂商 47 2.2.1 Marvell主控 47 2.2.2 三星主控 49 2.2.3 国产主控,谁主沉浮 50 2.3 案例:硅格(SiliconGo)SG9081主控 55 2.4 案例:企业级和消费级主控需求的归一化设计 56 2.5 案例:DERA(得瑞领新)NVMe控制器TAI和NVMe SSD产品 58 2.6 全闪存阵列AFA 60 2.6.1 整体解剖 60 2.6.2 硬件架构 64 2.6.3 软件架构 66 2.6.4 工作流程 69 2.6.5 应用场景 74 2.7 带计算功能的固态硬盘 75 第3章 SSD存储介质:闪存 77 3.1 闪存物理结构 77 3.1.1 闪存器件原理 77 3.1.2 SLC、MLC和TLC 78 3.1.3 闪存芯片架构 80 3.1.4 读、写、擦原理 83 3.1.5 三维闪存 84 3.1.6 Charge Trap型闪存 89 3.1.7 3D XPoint 91 3.2 闪存实战指南 95 3.2.1 异步时序 95 3.2.2 同步时序 97 3.2.3 闪存命令集 100 3.2.4 闪存寻址 101 3.2.5 读、写、擦时序 102 3.2.6 ONFI与Toggle协议之争 103 3.3 闪存特性 105 3.3.1 闪存存在的问题 105 3.3.2 寿命 107 3.3.3 闪存测试 109 3.3.4 MLC使用特性 110 3.3.5 读干扰 111 3.3.6 闪存数据保存期 112 3.4 闪存数据完整性 115 3.4.1 读错误来源 115 3.4.2 重读 117 3.4.3 ECC纠错码 118 3.4.4 RAID 119 3.4.5 数据随机化 120 第4章 SSD核心技术:FTL 122 4.1 FTL综述 122 4.2 映射管理 124 4.2.1 映射种类 124 4.2.2 映射基本原理 126 4.2.3 HMB 128 4.2.4 映射表刷新 130 4.3 垃圾回收 131 4.3.1 垃圾回收原理 131 4.3.2 写放大 137 4.3.3 垃圾回收实现 140 4.3.4 垃圾回收时机 147 4.4 Trim 148 4.5 磨损平衡 150 4.6 掉电恢复 152 4.7 坏块管理 155 4.7.1 坏块来源 155 4.7.2 坏块鉴别 155 4.7.3 坏块管理策略 157 4.8 SLC cache 158 4.9 RD& DR 160 4.10 Host Based FTL 161 4.10.1 Device Based FTL的不足 162 4.10.2 Host Based FTL架构 163 4.10.3 百度的软件定义闪存 163 第5章 PCIe介绍 166 5.1 从PCIe的速度说起 166 5.2 PCIe拓扑结构 169 5.3 PCIe分层结构 172 5.4 PCIe TLP类型 175 5.5 PCIe TLP结构 179 5.6 PCIe配置和地址空间 184 5.7 TLP的路由 189 5.8 数据链路层 197 5.9 物理层 202 5.10 PCIe Reset 205 5.11 PCIe Max Payload Size和Max Read Request Size 210 5.12 PCIe SSD热插拔 211 5.13 SSD PCIe链路性能损耗分析 213 第6章 NVMe介绍 216 6.1 AHCI到NVMe 216 6.2 NVMe综述 218 6.3 吉祥三宝:SQ、CQ和DB 223 6.4 寻址双雄:PRP和SGL 229 6.5 Trace分析 236 6.6 端到端数据保护 241 6.7 Namespace 245 6.8 NVMe over Fabrics 250 第7章 SSD测试 258 7.1 主流SSD测试软件介绍 258 7.1.1 SSD性能测试第一神器——FIO 258 7.1.2 AS SSD Benchmark 263 7.1.3 ATTO Disk Benchmark 264 7.1.4 CrystalDiskMark 264 7.1.5 PCMark Vantage 266 7.1.6 IOMeter 266 7.2 验证与确认 267 7.3 测试仪器 268 7.3.1 Emulator 268 7.3.2 协议分析仪 269 7.3.3 Jammer 272 7.4 回归测试 274 7.5 DevSlp测试 275 7.6 PCIe InterOp 278 7.7 WA测试 280 7.8 耐久度测试 281 7.9 认证Certification 288 7.10 SSD Performance测试 290 第8章 SSD电源管理 294 8.1 SATA省电模式Partial和Slumber 294 8.2 SATA超级省电模式DevSlp 295 8.3 SATA终极省电模式RTD3 299 8.4 PCIe省电模式ASPM 301 8.5 PCIe其他省电模式 305 8.6 NVMe动态电源管理 306 8.7 Power Domain 310 第9章 ECC原理 312 9.1 信号和噪声 312 9.2 通信系统模型 313 9.3 纠错编码的基本思想 315 9.3.1 编码距离 315 9.3.2 线性纠错码的基石——奇偶校验(Parity-Check) 315 9.3.3 校验矩阵H 和生成矩阵G 316 9.4 LDPC码原理简介 317 9.4.1 LDPC是什么 317 9.4.2 Tanner图 319 9.5 LDPC 解码 319 9.5.1 Bit-flipping 算法 319 9.5.2 和积信息传播算法 322 9.6 LDPC 编码 327 9.7 LDPC 在SSD中的应用 327 9.7.1 NAND 会出错 328 9.7.2 NAND 纠错模型 328 9.7.3 LDPC纠错流程 330 |
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