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出版社： 清华大学出版社
ISBN：9787302374442
商品编码：28650345577
丛书名： 材料现代测试分析方法
出版时间：2014-11-01
具体描述
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基本信息
书名:材料现代测试分析方法
：39元
作者:刘庆锁 主编
出版社：清华大学出版社
出版日期：2014-9-1
ISBN：9787302374442
字数：511000
页码：328
版次：1
装帧：平装
开本：16开
商品重量：0.3kg
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目录
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内容提要
《材料现代测试分析方法》包括X射线衍射分析、电子显微分析两大部分，主要内容包括：X射线衍射方程与强度、多晶体分析方法及X射线衍射分析仪、物相的定性与定量分析、晶体点阵参数的精确确定、透射电镜结构及其成像理、电子衍射、图像衬度、衍射运动学分析、高分辨透射电子显微技术、扫描电镜结构与理、电子探针显微分析等。同时，本书还简要介绍了低能电子衍射、俄歇电子能谱仪、场离子显微镜与子探针、扫描隧道与子力显微镜以及X射线光电子能谱仪等显微分析方法。书中的实例分析引入了材料组织结构研究方面的新成果。书中还附有练习题部分，通过对题目的解答，加深读者对相关概念、理的理解与掌握。
本书可以作为材料科学与工程专业的本科生和研究生教材或教学参考书，也可供材料类其他专业师生和从事材料研究及分析检测方面工作的技术人员学习参考。
文摘
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