具体描述
商品参数
| X射线多晶衍射数据Rietveld精修及GSAS软件入门 | ||
| 定价 | 45.80 | |
| 出版社 | 中国建材工业出版社 | |
| 版次 | 1 | |
| 出版时间 | 2016年06月 | |
| 开本 | 16开 | |
| 作者 | 郑振环，李强 | |
| 装帧 | 平装-胶订 | |
| 页数 | ||
| 字数 | ||
| ISBN编码 | 9787516014561 | |
| 重量 | 194 | |
内容介绍
Rietveld法全谱拟合已成为X射线多晶衍射修正晶体结构的重要方法。本书共分为四章，侧重从操作示例介绍Rietveld法的基本原理和精修过程。第1章简要介绍Rietveld法的发展概况和基本原理。第2章介绍精修软件EXPGUI-GSAS的安装和使用界面。第3章介绍Rietveld法X射线多晶衍射数据的实验测试，并以简单例子演示EXPGUI-GSAS精修过程以及结果的提取和图谱绘图。第4章给出了三个提高练习示例，包括创建仪器参数文件、含非晶混合物的定量分析以及占位修正等。
目录
第1章 Rietveld法结构精修
1.1 Rietveld法结构精修发展概况
1.2 Rietveld法基本原理
1.3 参数修正顺序与结果判据
1.4 精修过程出现的问题和对策
1.5 Rietveld法结构精修的应用
第2章 EXPGUI-GSAS软件安装与界面介绍
2.1 GSAS软件简介
2.2 EXPGUI-GSAS软件的安装
2.3 EXPGUI-GSAS软件界面介绍
第3章 EXPGUI-GSAS结构精修起步
3.1 精修前的准备工作
3.2 EXPGUI精修简单示例
3.3 精修结果提取与绘图
第4章 EXPGUI-GSAS提高练习
4.1 仪器参数文件的建立
4.2 物相（含非晶）定量分析
4.3 Le Bail法拟合以及约束的使用
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