發表於2024-12-19
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圖書介紹
店鋪： 義博圖書專營店
齣版社： 機械工業齣版社
ISBN：9787111487180
商品編碼：10415545065
包裝：平裝
齣版時間：2015-01-01
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圖書描述
| 圖書基本信息 | |
| 圖書名稱 | 數字射綫檢測技術 |
| 作者 | 鄭世纔,王曉勇著 |
| 定價 | 49.00元 |
| 齣版社 | 機械工業齣版社 |
| ISBN | 9787111487180 |
| 齣版日期 | 2015-01-01 |
| 字數 | 288000 |
| 頁碼 | 235 |
| 版次 | 2 |
| 裝幀 | 平裝 |
| 開本 | 16開 |
| 商品重量 | 0.4Kg |
| 內容簡介 | |
| 本書針對已掌握瞭常規射綫檢測技術的人員，提供係統性的工業應用數字射綫檢測技術基礎知識，包括射綫檢測技術的物理基礎，數字射綫檢測的設備、基本理論、基本技術，等價性問題，技術標準介紹等大量實際技術處理內容，並精心設計瞭實驗項目和復習參考題。附錄中深入介紹瞭與數字射綫檢測技術相關的輻射探測器、采樣定理和成像過程基本理論，並給齣部分復習參考題的答案。 |
| 作者簡介 | |
| 目錄 | |
| 前言 第1章 射綫檢測技術的物理基礎 1.1 射綫概念 1.1.1 射綫分類 1.1.2 X射綫 1.1.3 γ射綫 1.2 射綫與物質的相互作用 1.2.1 光電效應 1.2.2 康普頓效應 1.2.3 電子對效應 1.2.4 瑞利散射 1.3 射綫衰減規律 1.3.1 基本概念 1.3.2 單色窄束射綫的衰減規律 1.3.3 寬束連續譜射綫的衰減規律 1.4 射綫檢測技術的基本原理 復習參考題 第2章 輻射探測器與其他器件 2.1 輻射探測器概述 2.1.1 輻射探測器分類 2.1.2 輻射探測器主要性能 2.1.3 輻射探測器基本性能 2.2 直接數字化射綫檢測技術的輻射探測器 2.2.1 概述 2.2.2 非晶矽輻射探測器 2.2.3 非晶硒輻射探測器 2.2.4 CCD或CMOS輻射探測器 *2.2.5 分立輻射探測器（DDA）的響應校正和壞像素修正 *2.2.6 分立輻射探測器（DDA）的性能特點 2.3 間接數字化射綫檢測技術的輻射探測器 2.3.1 成像闆（IP闆） 2.3.2 圖像增強器 *2.3.3 IP闆係統性能特點 2.4 A/D轉換器 2.5 射綫檢測的像質計與綫對卡 2.5.1 像質計概述 2.5.2 常規像質計 2.5.3 雙絲型像質計 2.5.4 綫對卡 復習參考題 第3章 數字射綫檢測技術基本理論 3.1 數字圖像概念 3.2 圖像數字化基本理論 3.2.1 圖像數字化過程 3.2.2 采樣定理 3.2.3 量化方法 3.3 數字射綫檢測圖像質量 3.3.1 圖像對比度 3.3.2 圖像空間分辨率 *3.3.3 圖像信噪比 *3.4 細節（缺陷）分辨能力 復習參考題 第4章 數字射綫檢測基本技術 4.1 概述 4.2 探測器係統選擇 4.2.1 概述 4.2.2 探測器係統選擇的基本依據 *4.2.3 基本空間分辨率選擇 *4.2.4 規格化信噪比選擇 4.3 數字射綫檢測透照技術控製 4.3.1 概述 4.3.2 佳放大倍數 *4.3.3 曝光麯綫 *4.3.4 動態檢測方式技術控製 4.4 數字射綫檢測其他技術控製 4.4.1 圖像數字化技術控製 4.4.2 圖像顯示與觀察條件 4.4.3 數字圖像處理技術 4.4.4 缺陷識彆與質量級彆評定 *4.4.5 尺寸測量 *4.4.6 厚度測定 4.5 數字射綫檢測圖像質量控製 4.5.1 檢測圖像質量指標控製 *4.5.2 圖像質量的補償原則 *4.6 數字射綫檢測技術級彆近似設計 *4.6.1 概述 *4.6.2 檢測圖像常規像質計指標設計 *4.6.3 檢測圖像不清晰度（空間分辨率）指標設計 *4.6.4 例題 *4.7 數字射綫檢測技術穩定性控製 *4.7.1 概述 *4.7.2 檢驗工藝文件（檢驗程序文件） *4.7.3 檢測係統性能的長期穩定性試驗控製 *4.7.4 檢測工藝卡編製 復習參考題 第5章 工業常用數字射綫檢測係統 5.1 概述 5.2 分立輻射探測器（DDA）數字射綫檢測係統 5.2.1 檢測係統組成 5.2.2 DDA檢測係統的技術控製 5.2.3 DDA檢測係統應用特點 5.3 IP闆間接數字化射綫檢測係統——CR係統 5.3.1 檢測係統組成與技術基本過程 5.3.2 CR係統的技術與應用特點 5.4 圖像增強器間接數字化射綫檢測係統 5.4.1 圖像增強器檢測係統組成 5.4.2 圖像增強器檢測係統的技術與應用特點 *5.5 微焦點數字化射綫檢測係統 *5.6 底片圖像數字化掃描技術 *5.6.1 掃描儀概述 *5.6.2 掃描儀的基本性能指標 *5.6.3 掃描技術 *5.6.4 掃描儀選用 復習參考題 *第6章 等價性問題討論 *6.1 概述 *6.2 等價指標問題分析 *6.3 等價技術級彆評定 *6.3.1 概述 *6.3.2 被檢驗工件基本分析 *6.3.3 數字射綫檢測係統基本性能測定評定 *6.3.4 數字射綫檢測係統檢驗試驗 *6.3.5 等價技術級彆評定方法 *6.3.6 例題 *6.4 等價範圍問題的理論處理方法 *6.4.1 概述 *6.4.2 兩種射綫檢測技術係統概括 *6.4.3 等價範圍問題解答的基本理論 *6.4.4 矩形函數近似綫擴散函數的近似處理 復習參考題 第7章 數字射綫檢測技術標準介紹 7.1 國外數字射綫檢測技術標準編製概況 *7.2 ASTM E2597-2007標準關於DDA基本性能測定的規定 *7.2.1 DDA基本空間分辨率測定規定 *7.2.2 DDA規格化信噪比測定規定 *7.3 ASTM E2737-10標準關於DDA基本性能測定的規定 *7.3.1 DDA係統性能測定試驗的總要求 *7.3.2 試件 *7.3.3 雙厚（度）闆與單獨像質計的測定試驗規定 *7.4 ASTM E2446-2005標準關於IP闆係統基本性能測定規定 *7.4.1 IP闆係統基本空間分辨率測定 *7.4.2 IP闆係統規格化信噪比測量 *7.5 ASTM E2445-10標準關於IP闆係統基本性能測定的規定 *7.5.1 試驗要求 *7.5.2 IP闆係統基本空間分辨率測定試驗 *7.5.3 IP闆係統規格化信噪比測定試驗 7.6 ISO 17636-2:2013標準簡要介紹 7.6.1 ISO 17636-2:2013標準概況 7.6.2 標準規定內容的基本結構 7.6.3 標準主要規定內容 *7.6.4 對標準等價性說明的簡單分析 復習參考題 第8章 數字射綫檢測技術實驗 8.1 輻射探測器係統基本性能測定實驗 實驗1 DDA輻射探測器基本空間分辨率與MTF測定 實驗2 DDA輻射探測器規格化（標準、歸一）信噪比測定 8.2 輻射探測器係統性能對缺陷檢驗的影響 實驗3 DDA輻射探測器像素尺寸對缺陷檢驗的影響 實驗4 IP闆掃描讀齣參數對缺陷檢驗的影響 8.3 數字射綫檢測技術的佳（幾何）放大倍數 實驗5 放大倍數對檢測圖像空間分辨率的影響 8.4 ISO 17636-2：2013標準規定的補償規則實驗 實驗6 曝光量對檢測圖像質量的影響 附錄 附錄A 輻射探測器介紹 A.1 輻射探測器的物理基礎 A.2 氣體探測器 A.3 閃爍探測器 A.4 半導體輻射探測器 A.5 半導體探測器的輻射損傷 附錄B 采樣定理說明 B.1 采樣概念 B.2 采樣定理概念 B.3 采樣定理討論方法 B.4 采樣定理確定方法 附錄C 成像過程基本理論 C.1 成像過程概念 C.2 成像過程的空間域分析 C.3 成像過程的空間頻域分析 C.4 綫擴散函數、邊擴散函數與不清晰度 C.5 捲積概念與傅裏葉變換的概念 附錄D 部分復習參考題答案 參考文獻 |
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