發表於2024-11-20
內容介紹
資深驗證專傢劉斌(路桑)嚮您全麵介紹芯片驗證,從驗證的理論,到SystemVerilog語言和UVM驗證方法學,再到高級驗證項目話題。這本綜閤性、實用性的驗證理論和編程方麵的圖書,針對芯片驗證領域不同級彆的驗證工程師,給齣由淺入深的技術指南:學習驗證理論來認識驗證流程和標準,學習SystemVerilog語言和UVM方法學來掌握目前主流的動態驗證技術,瞭解高級驗證話題在今後遇到相關問題時可以參考。
作者介紹
劉斌(路桑)目前是Intel公司的資深驗證專傢。在Intel移動通信事業部主持驗證架構規劃和方法學研究,擔任過幾款億門級通信芯片的驗證經理角色。在工程領域之外,他在西安電子科技大學和西安交通大學客座講授芯片驗證課程。創辦的驗證技術訂閱號“路科驗證”,目前已有超過10000名的訂閱者。多次在設計驗證行業國際會議和展覽中發錶論文,並做瞭富有特色的演講。在西安交通大學取得微電子專業學士學位,在瑞典皇傢理工學院取得芯片設計專業碩士學位。
目錄
第1章 芯片驗證全視
1.1 功能驗證簡介
1.2 驗證的處境
1.2.1 驗證語言的發展
1.2.2 驗證麵臨的挑戰
1.3 驗證能力的5個維度
1.3.1 完備性
1.3.2 復用性
1.3.3 高效性
1.3.4 高産齣
1.3.5 代碼性能
1.4 驗證的任務和目標
1.4.1 按時保質低耗
1.4.2 芯片研發與客戶反饋
1.4.3 缺陷增長麯綫
1.5 驗證的周期
1.5.1 驗證周期中的檢查點
1.5.2 功能詳述
1.5.3 製定驗證計劃
1.5.4 開發驗證環境
1.5.5 調試環境和HDL文件
1.5.6 迴歸測試
1.5.7 芯片生産
1.5.8 矽後係統測試
1.5.9 逃逸分析
1.6 本章結束語
第2章 驗證的策略
2.1 設計的流程
2.1.1 TLM模型的需求和ESL開發
2.1.2 傳統的係統設計流程
2.1.3 ESL係統設計流程
2.1.4 語言的抽象級比較
2.1.5 傳統的係統集成視角
2.1.6 ESL係統集成視角
2.2 驗證的層次
2.2.1 模塊級
2.2.2 子係統級
2.2.3 芯片係統級
2.2.4 矽後係統級
2.3 驗證的透明度
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